美国博曼X-Ray金属镀层测厚仪符合行业对精度，可靠性和易用性的 严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用 。

我们可以为您提供哪些帮助？

精度更高？ 测量速度更快？ 样品种类多变？

 美国博曼X-Ray金属镀层测厚仪优势：

全系列产品满足用户不同的测量需求

• G系列 珠宝业的过渡金属分析

• B系列 小型电镀样品

• P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属

• O系列 较大测量点的薄膜分析

• M系列 采用?-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜

• L系列 大型电镀样品

• W系列 用于测量微电子领域的 小特征

智能化设计，强大的分析

• 几秒内完成金属镀层无损分析

• 成分分析 多可分析25种元素

• 同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金

• 基础参数法-半定量分析厚度与成分

• 轻松设置和操作 - 一根USB完成连接

• 简洁的前控制面板

• 占地面积小

• 轻量化设计，方便挪动

• 
  

直观的用户界面

• 提供分析灵活性，同时减少用户出错机会

• 直观的图标引导用户界面

• 强大的定性/无标样分析功能

• 功能强大的标准片库

• 可定制快捷键，方便操作

• 灵活的数据显示和导出

• 强大的报告编辑生成器

• 
  

性能，强大，便利

• 紧密耦合的几何设计提高测量效率和精度

• 经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度

• 仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长

• 可实现银、锡的L线薄膜分析

• 多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择

• 灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利

• 模块化组件设计，维护简单