产品关键词：斜坡电压电流测试（Ramp-IV）、阶梯电压电流测试（Step-IV）、脉冲电压电流测试（Pulse-IV）、开关瞬态光电流（on-off TPC）、开关瞬态光电压（on-off TPV）、暗注入瞬态特性测试（DIT）、深能级瞬态谱（DLTS）、暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）、光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV）、电荷抽取测试（CE）、阻抗谱测试（IS）、电容电压测试（CV）、强度调制光电流谱（IMPS）、强度调制光电流谱（IMPS）、强度调制光电流谱（IMPS）、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）、电致发射谱（ELS）

▌ 产品简介

UltraTran是一款集成了多种光电测试功能的仪器设备，专门针对半导体材料和器件的电学与光电特性进行精确测量，尤其适用于发光（OLED、PeLED等）与光伏器件（OPV、晶硅PV、异质结叠层PV等），该设备核心功能包括：

1）斜坡电压电流测试（Ramp-IV）、阶梯电压电流测试（Step- IV）和脉冲电压电流测试（Pulse-IV）。这些测试模式使得用户能够以不同的电学激励方式对样品进行扫描，从而获得关于样品在不同激励下的电学性质。Ramp-IV以连续的方式提供电压扫描，适用于捕捉材料响应的连贯变化；Step-IV则以逐步阶梯的方式提供电压，适合观察材料在不同电压阶跃下的稳态行为；而Pulse-IV通过短时的电压脉冲，允许研究器件的动力学IV特性，也可以有效减少器件的热阻，增加器件的注入电流。

2）UltraTran还提供了开关瞬态光电流（on-off TPC）和开关瞬态光电压（on-off TPV）测试，这些功能适合于研究材料在光照激发下的上升和下降过程【瞬态光电流/光电压/光电荷测试参考我司TranPVC产品】。

3）暗注入瞬态特性测试（DIT）和深能级瞬态谱（DLTS）是可以用于探测和分析半导体中的陷阱和缺陷状态。DLTS技术尤为擅长于识别和量化材料中的微小缺陷浓度，为改善半导体材料质量提供关键信息。

4）设备还支持暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）和光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV），这两种模式能够测定电荷在半导体内的传输和复合机制，得到迁移率等参数。

5）等效电荷抽取测试（CE），可以研究器件的电荷浓度。

6）阻抗谱测试（IS）、电容电压测试（CV）等功能则为设备增加了额外的维度，使其能够全面评估材料的阻抗和介电性能。

7）强度调制光电流谱（IMPS）和强度调制光电压谱（IMVS）为研究者提供了一种方法来探究材料对光强变化的频率响应，这对于光伏材料和应用尤为重要。

8）电致发射谱（ELS）为研究材料的电致发光特性，得到光谱、色坐标等参数。

▌ 测试功能

□ 斜坡电压电流测试（Ramp-IV）； 

□ 阶梯电压电流测试（Step-IV）；

□ 脉冲电压电流测试（Pulse-IV）； 

□ 开关瞬态光电流（on-off TPC）； 

□ 开关瞬态光电压（on-off TPV）；

□ 深能级瞬态谱（DLTS）；

□ 暗注入瞬态特性测试（DIT）；

□ 暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）。

□ 光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV）； 

□ 电荷抽取测试（CE）；

□ 阻抗谱测试（IS）； 

□ 电容电压测试（CV）； 

□ 强度调制光电流谱（IMPS）；

□ 强度调制光电压谱（IMVS）；

□ 电致发射谱（ELS）；

▌ 产品应用

□ 半导体：有机半导体、金属-有机框架、共价有机框、钙钛矿材料、二维材料、元素半导体（Si、Ge等）、化合物半导（InGaAs等）、宽带隙第三代半导体、量子点半导体、其它半导体材料；

□ 光伏材料器件；

□ 发光材料器件；

□ 光催化材料器件。

▌ 功能模块