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AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 日本Riken Keiki高输出光学系统高精度测量
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日本Riken Keiki高输出光学系统高精度测量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 特点介绍
配备超过2μW的高光输出光学系统
配备可测量2eV以上的低能量照射光学系统
高温测量可达100℃
膜厚测量
以 0.01eV 步长进行精确测量
配备高要求的多点测量和重复测量功能。
读取AC-2、3、5数据后即可进行分析
采用平板式开放式计数器,可进行高达 4000 cps 的光电子计数
日本Riken Keiki高输出光学系统高精度测量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 规格参数
电池材料电子性能测量
测量催化材料的电子特性
有机EL和复制感光材料的电离势测量
硬盘和磁带摩擦学研究
半导体和引线框架表面氧化态的测量
精密电子材料中分子级薄膜污染检测
测量以下功能材料的电离势:
有机EL、有机太阳能电池、有机晶体管、复制感光材料、钙钛矿太阳能电池、量子点、碳纳米材料、催化剂材料、蓄电池、燃料电池、半导体材料(Si、GaN、 GaAs等)、透明导电膜(ITO、FTO等)
面积 50 x 50 mm 或更小,厚度 10 mm 或更小
温度和湿度范围 温度范围:15~35℃(无突变)、60%RH以下(无凝露)、露点-30℃以上
电源 主机:AC100 V-240 V50/60 Hz5 A(最大)
LDLS(交流适配器):AC100 V-240 V50-60 Hz 2.5 A
LDLS(主机):DC12 V 120 W
温度控制器:AC100 V(±10%) ) 50/60 Hz 1 A(最大) )
(不包括控制 PC)
外部尺寸 LC(光源部分)*:约 623(宽)x 450(深)x 317(高)毫米
DC(测量部分):约 465(宽)x 450(深)x 360(高)
毫米:约 200(W)×150(D)×280(H) mm
*LC(光源)中包含 LDLS 电源。
重量 AC-2S LC(光源部分):约 30 kg,AC-2S DC(测量部分):约 31 kg
温度控制器:约 5 kg(不包括控制 PC)