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FAC-2 日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用
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日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用FAC-2特点介绍:
专用于光刻样品的开尔文探针
轻松设置样品,无需微调电极和样品之间的距离
可在大气中测量半导体样品的费米能级
由于测量时间短,因此非常适合测量随时间变化的情况,例如成膜或表面处理后金属表面的变化
日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用FAC-2规格参数:
有机电子材料的费米能级测量
金属和导电薄膜功函数的测量
有机EL和复制感光材料的电离势测量
硬盘和磁带摩擦学研究
半导体和引线框架表面氧化态的测量
精密电子材料中分子级薄膜污染检测
产品分类:开尔文探针
模型:FAC-2
测量原理:开尔文法
测量零件尺寸:Φ10mm
测量能量范围:3.4至6.2eV(使用功函数为5.0eV的参考样品进行校准时)
测量时间:10秒或更短(如果样品是金属)
重复性(标准差):功函数0.02eV(样品:金板)
温湿度范围:温度范围15-35℃,湿度20-60%RH
电源:AC100V,50/60Hz 5A(最大)
外形尺寸:约235(宽)×330毫米(高)×408(深)毫米
重量:约12公斤