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SD2000 老化测试系统
- 型号
- SD2000
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北京圣达骏业，专注于工业检测领域，以客户需求为导向，从成立之初的红外测温，工控传感两个产品线，经过十五年的行业积累和沉淀，建立了良好的客户信任和全面的厂家渠道。产品线拓展为现场检测，实验室分析相关十余种。
广泛服务于环保，电力，石油，化工，制药，工矿等企业，及科研院所，高校实验室。
秉承为客户创造价值，互利共赢，薄利多销，共同发展的理念，致力于为客户甄选具有服务质量，口碑好，性价比高的产品，做客户信得过的*仪器仪表集成服务商。
坚持诚信，专业，高效，感恩的态度，为客户提供行业动态，项目设计，方案咨询，产品选型，专业采购和安装培训等全程优质服务。
北京圣达骏业科技有限公司正在不断完善产品线，以便为您提供更好的服务！
详细信息
产品描述
SD2000老化测试系统提供对MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存储器等超大规模集成电路的高低温动态老化测试，将老化与电参数测试结合，在老化过程中可测试不同温度区间器件的电参数特性。
基本特点:
1. 老化测试系统单板128路双向I/O通道，共用8个时钟边沿（6个驱动边沿，2个比较边沿）
2. 1Mbit/通道图形深度，失效存储深度1kbit/通道，只存失效
3. 支持图形向量微指令
4. 单板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，电压范围-3V~+12V；电流范围-80mA~+80mA
5. 数字通道驱动电压范围-3V~+12V；比较电压范围-3V~+12V
6. 数量可配置程控电源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
7. 提供各老化试验区电压、电流测试
8. 128个输出控制继电器
9. 试验温度范围：5℃～150℃；温度均匀度±3℃
10.RJ45网口数据传输与控制
11.高温老化试验箱分16个区域，支持同时老化测试16种不同类型、不同封装形式的器件
12.系统提供电源过压、过流和短路保护
