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ES640充电器件模型(CDM)测试系统

型号
参数
应用领域:电子,航天,汽车,电气
湖南格雷柏电子科技有限公司

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ES640 Charged Device Model (CDM) Test System

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       EMC电磁兼容和可靠性分析仪器、仪表、设备综合服务供应商,

       芯片级、板级、系统级ESD静电抗扰和EMI电磁干扰测试方案定制商,

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详细信息

ES640充电器件模型(CDM)测试系统介绍:

1.描述

充电器件模型(CDM)静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的CDM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时,通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有非常快的上升时间。

ES640是一款自动化的CDM测试仪,可满足所有流行的CDM测试方法,支持场感应空气放电方法(FICDM)和接触放电(LI-CCDM、CC-TLP、RP-CCDM)方法。本测试系统包含计算机、环境控制室、精确的XYZ运动控制系统、不同类型的CDM测试仪头以及自动测试和数据分析软件。

以下是ESDEMC ES640 CDM解决方案与其他解决方案的比较,包括Thermo Scientific Orion3 CDM测试仪、Hanwa HED-C5000R等。

2.特点

高分辨率摄像头(可多达3个)可轻松进行引脚对齐操作

高分辨率运动控制系统(步长低至1µm)

允许批量测试多个设备

正在申请的CCDM方法具有更好的可重复性

密闭的环境室提高了干燥单元的效率

支持再生干燥单元(无需氮气)

3.应用

用于封装和晶圆级测试的通用CDM系统

支持许多流行的最新CDM方法:

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002(FICDM)

AEC Q100-011 Rev-D (遵循JS-002)

AEC Q101-005 Rev-A (遵循 JS-002)

ANSI/ESD SP5.3.3 (LI-CCDM,需要vf-TLP)

CC-TLP (待批准的ESDA SP,需要vf-TLP)

我司申请中的RP-CCDM方法

可根据客户要求提供已停用或定制的解决方案

机器人带电板模型(CBM)和平板ESD测试可自定义尺寸

4.规格

参数

ES640-150

ES640-300

单位

备注

最大XY测试面积

≥150X150

≥300X300

mm

探针移动面积,可定制

最大DUT面积

160X160

375X425

mm


充电板面积

210X210

395X470

mm


Z行程

≥50

≥150

mm


最小X, Y, Z步长

100

nm


复位重复能力

≤±6

μm


测试电压范围

±1至2000或4000

V

默认2000V,可定制

测试电压阶跃

1

V


测试电压精度

±1%±0.1V

%V


XY视野分辨率

1920X1080

像素


垂直视野分辨率

2592X1944

像素


运行温度

10至40

°C


运行湿度(RH)

10至80

%


电压

120-240VAC,50/60Hz

VAC


N2或CDA压强

10–120

PSI


N2或CDA峰值用量

0.2

cfm

或0.34m3h

300 N2箱平均用量

~19

小时

持续的@40RH环境

干燥剂平均用量

~24

小时

持续的@40RH环境

5.订购信息

编号

型号

描述

ES640带电器件模型(CDM)测试系统

1.1

ES640-150

通用CDM平台,150X150mm测试区域,2kV

1.2

ES640-300

通用CDM平台,300X300mm测试区域,2kV

1.3

ES640-HC

用于空气放电方法的湿度调节单元 (用户可重复使用干燥剂,比N2或CDA的使用成本更低)

1.4

ES640-CV4

放电电压从2kV提升到4kV

1.5

ES640-CPC

场板定制,用于固定200X300DUT

1.6

ES640-VP1

用于固定DUT的真空泵 (可选,软件控制)

1.7

ES640-VP2

高压尖部清洁单元(可选,软件控制)

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018标准相关配置( 包括AEC_Q100-011D,AEC_Q101-005A在内均遵循此标准)

2.1

ES640-JS002

JS002放电单元

2.2

ES640-JS002-C

JS002/C101校准盘(小盘和大盘)

2.3

ES640-JS002-P1

JS002可替代Pogo Pin #1 (直径0.35mm)

已停用的AEC标准相关配置(不推荐用于新设计)ES640充电器件模型(CDM)测试系统



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