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KM-DM2 大米外观品质分析仪（高级）
- 型号
- KM-DM2
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杭州科铭光电科技有限公司是一家集科研、生产、销售、服务于一体化的综合型技术企业，公司致力于高品质智能仪器的开发，推出了高性能、现代化的智能检测仪器设备。主要产品有：粮油检测仪器、种子检测仪器、原粮检测仪器、粉碎型粮食面粉检测仪器、实验室仪器等。
我司始终秉承“质量为本，服务至上”的企业理念，坚持以客户为中心，公司具备完善的售后服务体系，根据客户需求提供产品选型、人员培训和设备维护等服务，致力于为每一位用户提供可靠的产品及满意的服务。
我司将继续坚持创新驱动发展战略，加大研发投入，紧跟科技发展趋势。我们将不断探索新技术、新领域，以更加智能、高效的仪器设备赋能各行各业，推动行业的进步与发展。同时，我们也将持续提升服务质量，为客户提供更加全面、专业的技术支持与解决方案。
详细信息
大米外观品质分析仪（高级）用于各种类大米（精米、糙米、糯米等）、黑米各项外观品质指标的精准自动检测，可进行多参数、批量化的自动分析。
大米外观品质分析仪（高级）主要技术指标
1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像。透扫幅面30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
2、可自动一次性测量分析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、可直接检测大米透明度的国标等级、黄粒米、大米颜色黄度指数和大米白度测定、杂质量、异品种粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的裂纹率，糙米胚芽率。
3、自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02；整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%）。
4、可自动一次性测量分析30g以上黑米样品的：黑色度、黑米率、整黑米率、碎米率及小碎米率，符合NY/T 832-2004标准中相关这几项的检测指标。
5、可大批量自动分析处理与输出结果。
6、具有自动学习与识别特性，可自动分割粘连的大米、种粒，可做自动分类分析。
7、各分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图，以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。
8、具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm，自动数粒精度≥99%。
9、仪器有云平台支持，可将分析数据保存到云端随时随地查看。
标准配置
1、大米外观品质检测分析仪系统软件U盘及软件锁1套
2、光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪1台
3、铺米器1副
