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KM-SDY 水稻表型检测系统
- 型号
- KM-SDY
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杭州科铭光电科技有限公司是一家集科研、生产、销售、服务于一体化的综合型技术企业，公司致力于高品质智能仪器的开发，推出了高性能、现代化的智能检测仪器设备。主要产品有：粮油检测仪器、种子检测仪器、原粮检测仪器、粉碎型粮食面粉检测仪器、实验室仪器等。
我司始终秉承“质量为本，服务至上”的企业理念，坚持以客户为中心，公司具备完善的售后服务体系，根据客户需求提供产品选型、人员培训和设备维护等服务，致力于为每一位用户提供可靠的产品及满意的服务。
我司将继续坚持创新驱动发展战略，加大研发投入，紧跟科技发展趋势。我们将不断探索新技术、新领域，以更加智能、高效的仪器设备赋能各行各业，推动行业的进步与发展。同时，我们也将持续提升服务质量，为客户提供更加全面、专业的技术支持与解决方案。
详细信息
水稻育种研究中，水稻表型参数至关重要，水稻表型检测仪可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决水稻的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。
水稻表型检测系统技术参数
测量范围和误差：
1、水稻亩穗数测量误差： ≤±5%
2、稻穗形态测量范围： 5~20cm
3、水稻夹角测量范围： 0-180°
4、作物茎粗： 0-5.2cm
误差
穗长误差： ±2%
夹角测量误差： +5%
作物茎粗测量误差： ±1mm
千粒重测量误差： ±2%
株高测量范围： 0.1-1.5m
水稻茎秆测量误差：.....±5%
