X-RAY膜厚仪工作原理XRF-2020

应用原理：

覆盖层单位面积质量

(底材需为已知，覆盖层线性厚度）

和二次辐射强度之间存在一定的关系。对于任何实际的仪器系统

该关系首先已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。

若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度

则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

荧光强度是元素原子序数的函数，如果表面覆盖层、中间覆盖层

如果存在）以及基体是由不同元素组成或一个覆盖层由不止一个元素组成

则这些元素会产生各自的辐射特征。

可调节适当的检测器系统以选择一个或多个能谱，

使此设备既能测量表面覆盖层又能同时测量表面覆盖层

和一些中间覆盖层的厚度和组成。

X荧光镀层测厚仪测试报告：包括下列内容：

1.本标准的编号；

2.试样的准确标识；

3.测量日期；

4.试样上测量位置；

5.平均每份报告的测量次数；

6.尺寸不同，要标明准直器孔径和测量面积大小；

7.测量数值；

8. 用于X荧光厚度计算的密度值及使用理由；

9.报告的测量值具有代表性的标准偏差；

10.与本标准方法的差别:

11.可能影响报告结果解释的因素:

12.实验室名称和操作者姓名；

13.近期的校准证书或其他可接受的参考标准块的使用及溯源。

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

XRF-2020测厚仪X-RAY膜厚仪原理应用：

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

X-RAY膜厚测量仪X射线镀层测厚仪应用

可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层

镀银测量范围0.1-50um

镀镍测量范围0.5-30um

镀铜测量范围0.5-30um

镀锡测量范围0.5-50um

镀金测量范围0.03-6um

镀锌测量范围1-30um

锌镍合金测量范围1-25um

镀铬测量范围0.5-25um

X-RAY膜厚仪工作原理XRF-2020:快速无损检测

X荧光无损快速测量