X-RAY电镀膜厚仪原理
X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变
根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。
理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
XRF-2020镀层测厚仪：
别称：X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、X-RAY膜厚仪、膜厚测试仪
金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
特点:
XRF-2020全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量
功能及应用：
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
仪器测量精度：
表层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内
XRF-2020镀层测厚仪规格型号如下图
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出zhi来的第二次X射线的强度来。
测量镀层等dao金属薄膜的厚度
因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。
同时，测量也可以在10秒到几分钟内完成
