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AQ7420 高分辨率反射计
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检测反射位置并测量其强度
AQ7420可以精确检测光连接器和模块内的反射量和位置。它揭示标准损耗测量可能漏失的微裂纹,帮助避免不可预测和潜在有害的故障,这在受运动、振动和热循环影响的苛刻环境中尤为重要。与可选的传感器头单元配对时,它还可以同时测量插入损耗,使AQ7420成为检查光连接器及模块的理想多用途仪器。
在一些常规反射计中,假噪声可能会在没有实际反射的区域虚假出现。波形分析通常需要用户对这种现象有专门的知识。AQ7420大大减少了假噪声并简化了分析。
测量距离:100毫米(约4英寸)
空间分辨率:40μm
虚假噪声:−100分贝可避免虚假(鬼魅)效果
传统上,由于垂直轴(背反射)的测量精度差,反射计不足以检测反射衰减。AQ7420的测量不确定度为±3dB,使用光学传感器头,可以同时测量连接器连接损耗,不确定度达到±0.02 dB。
AQ7420同时测量光连接器的断裂、裂纹、损耗和反射。
光学连接器微裂纹测量实例(高灵敏度范围)
高分辨率反射计 AQ7420 用于光连接器和光模块的质量检查 检测反射位置和测量反射量 AQ7420 可准确检测光连接器和模块内反射的数量和位置。它揭示了标准损耗测量可能遗漏的微裂纹,有助于避免不可预测和潜在的有害故障,这在受运动、振动和热循环影响的苛刻环境中尤为有价值。当与可选的传感器头单元配对时,它还可以同时测量插入损耗,使 AQ7420 成为检测光连接器和模块的理想多用途仪器。特点 - 测量距离:100毫米(约4英寸) - 空间分辨率:40微米 - 杂散噪声:-100 dB,避免了假(鬼)效应 - 同时测量多重反射和插入损耗 应用 - 检测关键通信基础设施中使用的光连接器中的微裂纹,如: - 数据中心 - 海底光纤链路 - 蜂窝塔 (FTTA) - 空间卫星链路 - 精确定位光学设备中内部反射的位置和强度例如:- 用于通信的硅光子学 - TOSA/ROSA
项目规格 测量波长 −13NN:1310 nm,−1315:1310 nm / 1550 nm 测量距离范围*1 100 mm 距离采样分辨率*1 1、4、8 μm 空间分辨率*2、*3 40 μm 或更低 距离测量重复性*4、*6 50 μm 或更低 背向反射测量范围 标准范围:-14.7 至 -85 dB,高灵敏度范围: −50 至 −100 dB 背向反射测量不确定度 *2, *5, *6, *7 正常范围:±3 dB(−14.7 至 −85 dB) 高灵敏度范围:±3 dB(−50 至 −90 dB)、±5 dB(−90 至 −100 dB) 杂散噪声*8 正常范围:−85 dB 或更低*9 高灵敏度范围:−100 dB 或更低*10 测量时间*11 约 6 秒 适用光纤 SMF (ITU-T G.652) 主丝 SMF (ITU-T G.652), FC/PC 或 SC/PC 连接器 功能 通过控制软件 性能保证环境*12、*13 18 至 28°C、参考后 ±2°C、20 至 70%RH、无冷凝
操作环境 10 至 40°C、20 至 70%RH(28°C 以下)、20 至 50%RH(35°C 以下)、20 至 35%RH 或更低(40°C 以下)、无冷凝 储存环境 −10 至 50°C、20 至 80%RH(40°C 以下)、20 至 40%RH(50°C 以下)、无冷凝 电源要求 100 至 240 VAC, 50/60 Hz、120 VA 或更低(AC 适配器) 尺寸和质量*14 430 (W) × 132 (H) × 350 (D) mm(不包括保护器和手柄),大约。8 kg 激光安全标准 EN 60825-1:2014+A11:2021、IEC 60825-1:2014、GB/T 7247.1-2023 1 类 建议校准周期 1 年 标准附件 主控线、继电器线、FC 适配器、距离调节线、USB 线、控制软件 (CD)、交流适配器 控制软件 主要功能 光回波损耗分布波形、反射点位置、光学反射损耗显示、 判断波形缩放、标记功能等 推荐 PC*15 CPU:CORE i5,2 GHz 或更高,64 位,操作系统:Windows11,RAM:8 GB 或微尘,存储空间:1 GB 或更高,显示分辨率:1920 × 1080 点或更高,USB2.0 或更高。
*所有规格均在测量条件下预热 1 小时后和 REF 后。*产品规格为波长设置为 1310 nm 时的情况。*1 折射率为 1.467 时(从连接的光纤jian端开始) *2 测量距离 0 mm *3 反射光脉冲波形的一半值宽度。*4 在温度为 23°C 至 24°C 的空调房中,不包括因温度引起的光纤膨胀的影响,当稳定性模式开启时。*5 移动光纤时,回波损耗值可能会波动最多约 3 dB。*6 2 *7 平均 1 次(−14.7 dB 至 −90 dB),如果小于 −90 dB,则平均 5 倍。*8 由于设备特定特性而产生的伪反射波形。*9 测量伪反射光量时 −20 dB(0 mm 位置),平均 5 倍。*10 测量伪反射光量时 −50 dB(0 mm 位置),平均 5 倍。*11 测量距离 100 mm,距离测量样品分辨率 8 μm,高灵敏度范围:-50 至 -100 dB,平均 1 倍,因 PC 操作环境而异。*12 无温度突变 (±10°C/h)。*13 涵盖的规格:背向反射测量不确定度、距离测量可重复性、杂散噪声。*14 不包括附件。*15 不包括用于控制的个人计算机。请准备一台具有推荐规格或更高版本的个人电脑。