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AQ6150B 光波长计
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上海骋利电子科技有限公司是一家从事代理,经销仪器仪表,电子配套设备的综合性企业,秉承"诚信经营、 用心服务、客户至上、共谋发展"的宗旨,致力于电子测量及工业测试领域,竭诚为国内外制造,研发检测提供仪器设备和全方面测试方案,深得广大用户的信赖和支持。
横河凭借着在光测试测量领域拥有的广泛客户经验,设计出了世界上可靠性高且广泛通用的光波长计。 AQ6150系 列具有特定的技术特点,有能力测量光子技术应用中使用的各种设备和系统,可以说是高效的光波长测量仪器。
横河AQ6150系列可以满足光通信行业研发以及生产过程中特定的光波长测试测量需求。
AQ6150系列一共有两个机型。其中, AQ6151B是高精度型光波长计,波长精度高达±0.2ppm,可以满足高级别的精度测量要求。 AQ6150B是标准型光波长计,波长精度可达 ±0.7ppm,适用于对精度要求不高的测量应用,价格更加实惠。
AQ6150系列具有实时校准功能,通过来自内置波长参考光源 的高稳定性参考信号,确保了测量的长期稳定性。
光收发器和光传输系统的光输出是通过10G和25Gbps的传输频率进行调制的。内置的光谱分析功能采用了FFT技术,可以测量被调制后的展宽信号。
除了常规CW光模式外, AQ6150系列还有调制光模式。调制光模式通过分析光谱从而获得被调制光的中心波长,可以用于测量带通滤波器、 AWG和WSS等光滤波器的中心波长。
AQ6150系列可同时、快速、准确测量单一输入信号多达1024 个不同的波长,最小间隔仅为5GHz。这就意味着无论现在还 是将来, AQ6150系列光波长计都可以满足WDM传输系统开发 和生产领域的测试需求。
利用光耦合器汇合多个激光模块或光收发器并一次性测量所有 信号,多波长测量功能还有助于在单一波长激光器件的生产中 提高效率并降低成本。
通过自动增益控制(AGC)功能, AQ6150系列可以在据输入信号功率的基础上自动调整电子放大器的增益。这有助于大大提高波长精度和测量速度,即使输入信号功率低至-40dBm。
高速测量提高生产吞吐量
可调光源和可调光收发器的调整和界定需要对每个器件进行几百次波长测量。能否提高生产吞吐量,高速测量和快速处理能力是至关重要的。
无论是AQ6150B还是AQ6151B,测量、分析并将结果传至PC均仅需0.2秒。这一速度比横河之前的AQ6150和AQ6151快2 倍,大大提高了生产吞吐量。在重复测量模式下, AQ6150 系列每秒可以完成10个测量,非常适合实时监视波长的同时对光器件进行调整。
轻松升级测试系统
通过ETHERNET、 GP-IB等远程控制接口, AQ6150系列可以轻松建立自动测量系统。
远程命令设置符合可编程仪器标准命令接口规范(SCPI: standard command set for programmable instruments)。
因此,如果客户正在使用YOKOGAWA AQ6140系列或其他符 合SCPI规范的光波长计,可以轻松地升级现有测量系统,无需改变测量程序。
降低使用期内维护成本
传统波长计的波长参考光源不但故障率高,更换成本也不低。 万一发生故障或更换参考光源,就必须停工,已成为影响产品 整个生命周期成本的主要因素。
如何解决这一问题成为产品设计的主要目标之一。横河采用多 维方法解决了这一问题,详见下图
延长参考光源的使用寿命(MTBF)(最da化水平轴)
降低参考光源的更换成本(最小化垂直轴)
通过LAN访问数据
通过标配的LAN端口,可以轻松访问内存文件或从PC远程更新 固件。
使用鼠标直接操作
使用USB鼠标可以轻松、直观地改变测量条件,执行分析和 修改光谱显示范围。
在光谱显示中,简单的点击和拖动就可以放大或移动波形 图。还可以用同样的方式移动峰值阈值线、峰值检测的阈 值。
USB端口
兼容USB数据存储设备、鼠标和键盘。
创建测试结果时,用户可以通过文件功能将数据和屏幕快照 保存到内部存储器或USB存储设备。只要按位于前面板上的 屏幕打印按钮(PRT SCN),就可以保存屏幕快照。
AQ6150系列拥有自动测量和分析功能,可以为创建和验证远程控制和分析程序节约宝贵的时间和资源。
漂移分析
通过漂移分析功能,可以得到多次重复测量所得的各峰值的波长和功率的经年变化情况,包括最大值(MAX)、最小值(MIN)和 变化量(MAX-MIN)。此功能有助于长期稳定性测试和激光器温度依赖性评价。
Fabry-Perot激光器分析
可以根据测量光谱即刻分析并显示FP-LD激光器的评价参数, 结果包括以下数据。
中心波长、总功率、谱宽(FWHM)、模间隔等
平均测量
平均测量是指,根据多次重复测量所得的各个峰值计算平均波长和平均功率。此功能有助于测量调制信号或不稳定信号的不确定度。
数据记录功能
每通道可以保存并以表格或图形的形式显示多达100001点的测量数据。
此功能有助于长期稳定性测试和温度循环测试。