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Exemplar 超高速光纤光谱仪
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- Exemplar
B&W Tek是一家提供移动光谱解决方案的美国高科技仪器公司。公司集开发、研制、生产于一体，主要产品：光谱仪和激光器，以及实验室、便携式和手持式拉曼系统，LIBS系统，近红外系统等均处于水平。 产品广泛应用于食品安全、制药工业、法医刑侦、安全防范、科学研究、生物医学、在线控制、科技考古、物理、化学、LED照明等多个行业，并在欧洲、上海、日本、中国台湾、印度设立多个分部，为您提供范围实时的技术服务和保障。
B&W Tek自1997年在美国特拉华州成立以来，通过不断整合以定制设计和精益制造为核心的技术实力，从绿色激光器起步，已经成长为*的移动光谱解决方案提供商。
B&W Tek一直在前进，从未止步。强大的资源垂直整合能力，使我们更高效、增长更快，并为您提供更高性价比的优质产品。 核心组件的自主研发和制造为您提供更多的应用解决方案。这一切的进步离不开*的技术、优异的硬件、崇尚的创新理念和团队的不懈努力。
B&W Tek 产品服务于终端用户和OEM生产，在工业、仪器、医疗激光和光通讯等领域具有广泛的应用。它的贴牌生产和研发包括了所有主要的光电应用，从设计到生产的整体服务和为生产和终端用户快速提供样机的能力方面具有超群的实力。对于每一个产品生产项目，我们的设计可以满足客户对产品的各种要求。同时，在我们严谨的管理体系和严格的产品质量控制下，产品质量*，服务周到，这使我们引以为豪。公司现有包括实验研发中心、生产部、管理部和技术在内的办公用房4500平方米，测试和QA控制及量产厂房约8,000平方米。公司生产链为环保型生产系统，能够有效控制污染，降低成本。我们本着顾客满意*的准则，竭诚服务于终端用户和OEM顾客。因此，我们的客户遍布，在美国、日本、欧洲及其他国家和地区都有着广泛的用户群。
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详细信息
Exemplar™超高速光纤光谱仪是美国必达泰克公司zui近推出的一款全新的、采用多项突破性技术的“超高速”、“智能”微型光谱仪。
“智能”是由指Exemplar™能在线自动处理运算过程，不需要任何额外的手动操作，这也是世界上*真正实现了全自动在线数据处理功能的微型光谱仪。自动运算功能包括：自动求平均值、自动光谱平滑及自动噪声扣除。Exemplar™的另一个优异性是“超高速”。它采用了USB 3.0接口，数据传输更稳定，更快，zui高可达900谱/秒。同时，它支持多达16个通道同步传输功能，具有超低的仅14ns的触发延迟时间，通道时间偏差 /-1ns，市面上还没有一台同类型的光谱仪能达到这样的速度。
Exemplar™超高速光纤光谱仪能够将CCD检测器曝光时间控制在1ms之内，使得客户能够控制光谱仪的信噪比，这在之前从未实现过。它还内置了温度控制系统，温度控制更方便，性能更稳定。
以上性能使得Exemplar™在下列应用中有着非常出色的表现：合并、分类，反应动力学，过程监控，以及多通道同步分析，例如：多点采样、LIBS。Exemplar™是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择，光谱范围从200nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5nm到4.0nm之间选择，必达泰克公司也可为OEM客户提供定制选择。
Exemplar™的特点：
• 在线自动数据处理，包括：自动求平均，自动光谱平滑，自动扣除噪声
• 温度控制，超低的基线漂移
• 超低的触发延迟（14ns）及通道时间偏差（ /-1ns）
• 支持多达16个通道的同步传输功能
• 光谱覆盖范围：200nm - 1050nm
• 光谱分辨率高达0.5nm
• zui小1ms的积分时间
• 读出速度大于2.0 MHz
Exemplar™的技术参数：
| 电流输入 | USB@＜0.5Amps |
| 检测器类型 | 增强响应线性CCD阵列检测器 |
| 像元数 | 2048 × 1 @ 50µm × 250µm |
| 光谱仪F# | 3.6 |
| 光谱仪光路 | Crossed Czerny-Turne |
| 动态范围 | 275（标准） |
| 数字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
| 读出速度 | ＞2.0MHz |
| 数据传输速度 | 高达900谱/秒 |
| zui小积分时间 | 1ms |
| 基线漂移 | 29 Counts/℃（zui大） |
| Aux Port | 外触发 |
| 操作温度 | 5-35℃ |
| 相对湿度 | 85%，无冷凝 |
| 重量 | ~0.34 kg |
| 尺寸 | 102mm ×67mm × 34mm |
| 计算机接口 | USB3.0 / 2.0 / 1.1 |
| 操作系统 | Windows XP, Vista （32-bit）, Win 7 |
Exemplar™的应用：
• 紫外，可见和短波近红外 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
• 波长检测
• 吸光度测量
• LIBS
• 多点采样
