x射线残余应力分析仪

视频简介

Xstress DR45是新一代X射线残余应力分析仪,比以往历代残余应力分析仪更快速、精度更高,提供的数据更可靠。 Xstress DR45的检测速度和准确性使残余应力测量方面大大超出了实验室范围,并进入了生产线。直观、简捷的界面的,全新支持软件与全新技术相结合,提高了工作效率。

Xstress DR45用于制造业

  • 快速测量,甚至适用于生产领域
  • 操作员易于使用的软件
  • 可用于频繁测量的模板

Xstress DR45用于实验室

  • 符合标准EN15305
  • 可进行多种计算,包括线性和椭圆回归,Dölle-Hauk,应力张量和主应力等功能。峰拟合功能包括互相关,抛物线,高斯,洛伦兹,修改的洛伦兹,中间洛伦兹,皮尔逊VII,伪Vogt,Voigt,质心,居中质心,重心滑动和中弦。
  • 可测量不同尺寸和形状的零件的巨大差异
  • 轻松快捷地更换X射线管

 

Xstress DR45现场使用

  • 快速组装,可在10分钟内使用
  • 衍射仪和Xstress MU的稳健设计
  • 可在不平坦的表面上进行测量;用磁脚固定在不同的位置。
    提示

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