OCS 粒子尺寸和形状分布测试仪（PSSD） 用于对颗粒的尺寸和形状分布进行快速分析和分级，同时对物料外观缺陷进行快速检测。待测物料通过振动平台传送至末端以自由落体方式下落，下落过程中每个粒子都被线扫描相机捕捉并对其外形尺寸进行分析，可检测的外观缺陷包括大粒、小粒、联粒、拖尾、丝发、碎屑/粉尘等。PSSD 可以离线配置于用户实验室，也可采用旁路采样的在线配置方式，测试数据通过通讯端口输送至控制室 DCS，用于质量分析和控制，如监测造粒系统（评估切刀的磨损程度），测量粒子重量（选配称重系统）等。

可测试的原材料 

■所有类型粒子 

特点 

■高速CMOS线扫描相机（单色） 

■可检测到的最小材料尺寸： 71 μm 

■zui高处理量可达18 公斤/小时，根据具体材料性能差异而不同 

■结果实时可视化 

兼容于以下设备 

■OCS 粒子黑点杂质检测仪(PS25C）

粒子尺寸和形状分布测试仪（PSSD）