贝士德公司在国内*取得6项测量碳化硅微粉比表面积测试仪相关*，为国内拥有*项目zui多的公司；
    贝士德公司为国内*符合09年新标准的北京科技园区*；
    贝士德公司为业内zui早通过ISO9001质量体系认证的生产性企业；
    贝士德公司为动态色谱法测量碳化硅微粉比表面积测试仪zui高精度的创造者与保持者；
    贝士德公司是静态容量法吸附仪*性和智能化的代表；
测量碳化硅微粉比表面积测试仪特征简列：

      ◆具有国内*的一体式原位加热吹扫装置；并具有吹扫程序定时功能；
      （*名称：具有原位吹扫功能的比表面仪 *号:ZL200920110453.4）
      ◆程控六通阀标定系统，国内外*具有定量管体积程控切换功能；
      ◆具有国内*的氮气分压色谱法检测系统，检测精度*达到0.01%;
      （*名称:氮气浓度检测器 *受理号:200920110455.3）
      ◆具有国内*并*的程控风热助脱系统;
      （*名称：具有吹风加热功能的比表面仪 *号:ZL200920110451.5）
      ◆具有国内*的气体净化冷阱功能,使气体纯度提高10倍以上；
      （*名称：气体净化冷阱及比表面仪 *号:ZL200920110450.0）
      ◆具有国内*并*的热导池检测器恒温系统;
      （*名称：气体恒温装置及比表面仪 *号:ZL200920110454.9）
      ◆在国内*具有粒度模型估算数据处理功能，并给出粒度估算报告；
      ◆仪器参数大屏幕5英寸LCD液晶显示；
      ◆具有国内*的液氮温度监测功能；
      ◆具有国内*的检测器气源开关指示与保护装置；
      ◆贝士德样品管;
      （*名称：比表面仪U型样品管 *号:ZL200920110452.X）

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪性能参数:
测试方法： 多功能性,可进行BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、固体标样参比法等测试,统计层厚法（计算外比表面积）、粒度估算、样品BET吸附常数C等测试方法；
测试精度： 测试精度高、重现性好。BET多点法、BET单点法、Langmuir多点法、Langmuir单点法、测试相对误差小于±2%；固体标样参比法测试相对误差小于±1.5%；
测试范围： 测试范围广,可测定比表面积在0.01m2/g以上的范围内的物质，满足所有粉体物质及多孔物质比表面积的测试；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等。
测试时间： 测试时间:BET多点法,同时可测试4个样品，测试速度平均每个样品每分压点测定时间约5分钟,平均每个样品总用时约30min；BET单点法,同时可测试4个样品,测试速度平均每个样品测定时间约5分钟；固体标样参比法,同时可测试3个样品,平均每个样品测定时间约6分钟,仅为国外同类仪器测试时间的四分之一；以上测试时间不包含样品吹扫净化预处理时间.

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪特点简介：
吹扫处理： 具有国内*一体式脱气装置（非分体式），解决了脱气、测试一体化问题，实现了试样原位处理，只需一次安装，与空气零接触，保证了样品预处理的高效性与有效性；
风热助脱： 具有国内*程控风热助脱装置，保证得到尖锐快速的脱附峰，减少背景误差；
定量管程控切换： 具有国内*程控六通阀标定系统，动作周期小于10毫秒；并且定量管体积程控切换；
检测器零漂抑制： 具有国内*检测器恒温系统，使检测器10min的漂移试小于0.1mV,保证测试结果的准确性与稳定性；
浓度色谱法检测： 具有国内*色谱法氮气分压检测系统，相对流量法精度提高10倍，使氮气浓度控制精度和检测精度均达到万分之一，高稳定性；
粒度模型估算： 具有国内*粒度模型估算数据处理功能，并给出粒度估算报告；此功能能够根据比表面积给出各个模型下的平均粒度，对研究者判断颗粒形态起到指导作用；
气体净化冷阱： 具有国内*气体净化冷阱,使气体纯度提高1个数量级以上；
气源开关保护： 具有国内*气源开关指示与保护装置，断气自动断电，*避免断气带电误操作对检测器的损害；
吹扫定时： 具有国内*吹扫定时功能，定时精度1秒。倒计时完成后自动切断加热电源，并声音提示；
温度监测： 液氮温度可监测,消除普通工业液氮温度差异影响,使用条件宽泛；室温监测,消除环境温度影响。

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪仪器配件：
测试配件： 标配高纯He、高纯N2和氦氮混合气体3瓶气体,气体使用时间更长,平均使用2年以上；贝士德样品管,保证测试精度的同时使得样品管装样方便并不局限于粉末样品测试；
仪器硬件： 硬件采用稳定而耐用的部件，关键部件全部采用进口配件，经过严格检测，适合频繁测试；

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪控制系统：
控制系统： 吸附脱附过程全自动程序控制,各个重要环节声音提示；仪器运行中操作人员进行其他工作或离开也不用担心耽误实验；
测试稳定： 大屏幕5英寸LCD液晶显示,各个机械部分动作指示,使仪器工作状态参数软件、硬件同时显示,即使软件未打开也可准确掌握仪器状态，使得仪器稳定程度更高；
测试气路： 采用低温氮吸附动态色谱法，国内外*并联气路，消除了环境温度、湿度、大气压力等外界影响，无需抽真空，试验室条件要求相对宽松；
数据处理： 软件为自主研发的高精度数据处理系统，高采样频率100Hz，
全自动控制；具有功能完善的比表面数据处理能力；USB通讯接口；

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪售后服务：
仪器售后： 公司负责现场安装、调试、操作培训，实行客户定期回访制度，售后服务周到，客户面广，信誉高。

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪：
地址：北京市海淀区上地十街辉煌4栋1915号（城铁13号线-西二旗站）
:86-10-62960251  62960252  82709850  82176110
非工作时间： 
技术部直线:86-10-82708062
传真:86-10-80624400
                                   
全国统一：

: www.best17.cn    
www.bibiaomian.com    
www.hhhnm.com
www.bibiaomian.com.cn
www.bsdyq.com
www.bibiaomianji.com.cn
www.bibiaomianji.com
www.bbmjy.com
  

3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪发展历程：
3H-2000型系列测量碳化硅微粉比表面积测试仪仪器的zui早型号为HPDAI-88型高效动态吸附仪，依据国家标准为GB/T 10722-2003（原GB/T 10722-1999），该型号在1988年8月5日通过化工部*鉴定，技术鉴定证书编号为：【88】化科鉴定第48号。经过改进升级后3H-2000型系列测量碳化硅微粉比表面积测试仪仪器在2002年12月16日通过国家标准物质研究中心的计量检测，证书编号为：计测字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多点法教学用3H-2000II型测量碳化硅微粉比表面积测试仪;2005年推出3H-2000III型测量碳化硅微粉比表面积测试仪;2008年推出的全自动智能运行的3H-2000A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪,以及BET原理的BET单点法的3H-2000BET-S型测量碳化硅微粉比表面积测试仪,BET多点法的3H-2000BET-A型测量碳化硅微粉比表面积测试仪;

3H-2000系列测量碳化硅微粉比表面积测试仪主要功能及应用范围：
主要有化工行业，如石化、医药、食品、农业、精细化工等；
环保领域，如活性炭、分子筛、活性氧化铝等；
涂料、塑料工业，如无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅等；
陶瓷材料原料，如氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅等；
橡塑材料行业，如炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等；
新型电池材料行业，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料；粉末粉体材料领域等。

需要采购测量碳化硅微粉比表面积测试仪的生产厂家请测量碳化硅微粉比表面积测试仪专业生产厂家--贝士德仪器科技（北京）有限公司销售人员。
贝士德仪器科技（北京）有限公司是国内专业生产测量碳化硅微粉比表面积测试仪和比表面及孔径分析仪的厂家，在中国zui早从事氮吸附测量碳化硅微粉比表面积测试仪的研发、生产、销售、培训等，是北京中关村科技园认定的*。