光学形貌仪进行表面粗糙度和表面形貌测量时，比探针式轮廓仪有更低的成本，但同样使用了当今较高分辨率光学轮廓仪采用的白光干涉（WSI）及相移干涉（PSI）测量技术，垂直分辨率可达次纳米级。光学形貌仪的直观软件包括表面粗糙度，形状和台阶高度的测量，在数秒内，您可以获得平面和曲面表面形貌测量所有常见的粗糙度参数。也可以选择拼接功能软件来组合多个影像以提供大面积的测量。

 

　　光学形貌仪可存储、共享、查看与分析来自您的光学轮廓仪或3D显微镜之3D影像。任何台式电脑，平板电脑或智能手机上都能查看和操作。享受全面的图像分析功能，包括表面轮廓（粗糙度）和阶高分析。每台仪器都标配自动化X/Y平台；并配备了一个10微米阶高标准片，可达0.5％准确度。另我们还提供100nm，2微米以及4微米等多阶高的标准片。光学形貌仪采用10倍物镜可以提供更宽广的2毫米视野，其数位变焦功能有助于缓解不同应用时切换多个物镜的需要。手动物镜转盘能一次搭载四组物镜，可满足需要多种倍率物镜交替使用的测量应用。

　　产品应用：

　　MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。

 

　　产品特性：

　　1、采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率；

　　2、测量具有非破坏性，测量速度快，准确度高；

　　3、测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

　　4、尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面；

　　5、不受样品反射率的影响；

　　6、不受环境光的影响；

　　7、测量简单，样品无需特殊处理。