红外测厚仪使用时需要注意哪些事项？
时间：2024-04-08 阅读：1572
红外测厚仪利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度，对水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度有着十分重要的意义。
红外测厚仪有效地改善了工作环境，具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、非接触式测量等优点，并为涂胶池、造纸工序厚度控制提供了准确的信息，从而提高了生产效率和产品质量，降低了劳动强度。
红外测厚仪测量的注意事项：
1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2、测量时侧头与试样表面保持垂直。
3、测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。