显微分光光度计薄膜测厚仪

FRANG-MSP300显微分光光度计薄膜测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-09-11 10:52:46
149
属性:
产地类别:进口;价格区间:面议;色散单元:光栅和滤光片;应用领域:环保,能源,电子,电气,综合;
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产品属性
产地类别
进口
价格区间
面议
色散单元
光栅和滤光片
应用领域
环保,能源,电子,电气,综合
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孚光精仪(中国)有限公司

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产品简介

显微分光光度计是多功能显微薄膜测厚测量仪,结合显微镜测量薄膜吸收率,透过率,反射率以及薄膜荧光,通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。

详细介绍

显微分光光度计MicroSpectrophotomete多功能显微薄膜测厚测量仪,结合显微镜测量薄膜吸收率,透过率,反射率以及薄膜荧光。这款显微分光光度计通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
显微分光光度计应用
测量薄膜吸收率,透过率
测量化学薄膜和生物薄膜测量
光电子薄膜结构测量
半导体制造
聚合物测量
在线测量
光学镀膜测量

整套显微分光光度计的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。*高倍数的物镜的测量点*小。
显微分光光度计薄膜测厚仪
显微分光光度计软件  
这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。
对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。
对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。
显微分光光度计薄膜测厚仪
显微分光光度计软件的显示

显微分光光度计和自动晶圆传输加载系统的连用-用于晶圆薄膜测量
显微分光光度计薄膜测厚仪
显微分光光度计-具有成像和光谱对应测量功能
显微分光光度计薄膜测厚仪
显微分光光度计的样品成像功能

显微分光光度计标准参数

型号

波长范围

测量参数

测量薄膜厚度范围

测量点大小

可选项

MSP100

250 to 1000 nm

D - Thickness;

R - Reflection

T - Transmission

N - Refractive Index;

K - Extinction Coefficients

Geometry of features

Up to 25um

Configuration 1:

8µm /40µm /100µm


Or


Configuration 2:

5µm /25µm /50µm


Transmission

Motorized Stage

Motorized Z Focus

Heating/Cooling Stage

Special Sample Holders

Fluorescence Attachment

Other spot sizes
Various Filters

Polarizing optics

Thickness standards

MSP300

400 to 1000 nm

20nm to 50um

MSP400

1000 to 1700 nm

50nm to 50um

MSP450

400 to 1700 nm

20nm to 50um

MSP500

250 to 1700 nm

Up to 50um



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