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三丰表面粗糙度 / 轮廓测量仪SV-C3200S4
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1. 三丰表面粗糙度 / 轮廓测量仪SV-C3200S4的系统
检出器测力：0.75 mN
型号 | 主机规格 | ||
X1 轴测量范围 | 垂直移动 | 花岗岩基座尺寸 | |
SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
1-1. 的系统图
1-2. 数据处理部
分析软件 | FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS |
2. 的主机规格
2-1. 测量表面粗糙度时
适用标准：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
评价轮廓：基本曲线／粗糙度曲线／包络残余线／过滤波形曲线／带通波曲线／波纹度曲线／滚环波纹曲线／
粗糙度motif／波纹度motif／DIN4776
测量范围 | X1 轴 | 100 mm | |
检出器 | 800 μm、80 μm、8 μm | ||
类型 | X1 轴 | 反射型线性编码器 | |
检出器 | 差动电感式 | ||
分辨力 | X1 轴 | 0.05 μm | |
检出器 | 0.01μm（800 μm） 0.001 μm（80 μm） 0.0001 μm（8 μm） | ||
直线度 | （0.05＋L/1000）μm L为驱动长度（mm） （以X1轴为水平方向上） | ||
测针上／下运作 | 弧形移动 | ||
测针方向 | 向下 | ||
测力 | 0.75 mN | ||
测针针尖形状 | 60°、R2 μm | ||
2-2. 测量轮廓形状时
测量范围 | X1 轴 | 100 mm | |
Z1轴（检出器） | 60 mm | ||
类型 | X1 轴 | 反射型线性编码器 | |
Z1轴 | 圆弧光栅尺 | ||
分辨力 | X1 轴 | 0.05 μm | |
Z1轴 | 0.04 μm | ||
直线度 | 0.8μm/100 mm （以X1轴为水平方向上） | ||
指示精度 | X1 轴 | ±（0.8＋0.01L）μm L为驱动长度（mm） | |
（20℃） | Z1轴 | ±（1.6＋｜2H｜/100）μm H：基于水平位置的测量高度（mm） | |
测针上／下运作 | 弧形移动 | ||
测量方向 | 向前/向后 | ||
测针方向 | 向上/ 向下 | ||
测力 | 30 mN | ||
跟踪角度 | 向上 | 77°（依表面粗糙度而定） | |
向下 | 83°（依表面粗糙度而定） *使用配置的标准测头 | ||
测针针尖 | *半径 | 25 μm | |
材料 | 硬质合金 | ||
2-3. 的主机规格
垂直移动 | Z2 轴(立柱) | 300 mm | |
长度基准 | Z2 轴 | ABSOLUTE 线性编码器 | |
分辨力 | Z2 轴 | 1 μm | |
X1 轴倾角范围 | ±45° | ||
驱动速度 | X1 轴 | 0～80 mm/s外加手动 | |
Z2 轴 | 0～30 mm/s外加手动 | ||
测量速度 | 0.02～5 mm/s | ||
基座尺寸 | 600×450 mm | ||
基座材料 | 花岗岩 | ||
尺寸 | 主机 | 996×575×966 mm | |
控制器 | 221×344×490 mm | ||
遥控箱 | 248×102×62.2 mm | ||
重量 | 主机 | 140 kg | |
控制器 | 14 kg | ||
遥控箱 | 0.9 kg | ||
使用温度范围 | 15～25 ℃ | ||
使用湿度范围 | 20～80 %RT 但是不能结露 | ||
保存温度范围 | -10～50 ℃ | ||
保存湿度范围 | 5～90 %RT 但是不能结露 | ||
电源 | 100～120V、200～240 V±10%、AC50/60 Hz | ||
消耗功率 | 400 W | ||
3-2. 数据处理部
品名 | 备注 | 数量 |
FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS | 英语、inch/mm | 1 |
电脑 DELL OPTIFLEX 9010 | Windows7（OS：中国語） | 1 |
打印机 HP1000 | 1 |
