产品简介
微米压入测试仪适用于硬质薄膜、软质薄膜和块体材料的测量。它为您提供精准与高重复性的材料硬度和弹性模量测试结果。 微米压入测试仪可以用于测量块状材料，PVD、CVD硬质薄膜和陶瓷薄膜等材料的性质。
详细介绍
仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量
- 位移-仪器化压痕：持续测量与施加的载荷和相关的位移，获得材料硬度和弹性模量
一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕
- 从小位移（几纳米）到大位移（大 1 mm）的压痕
- 大载荷范围（从10 mN 到 30 N）以满足样品特性的要求
- 大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用
高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量
- 两个独立的传感器：一个用于载荷，一个用于位移，来进行准确的计量测量
- 高框架刚度：2 x 108 N/m，更高的位移准确度
材料性能的位移曲线
- 连续多周期 (CMC) 的位移曲线：硬度和弹性模量与压入位移的关系
- 压入载荷和位移控制模式
- 可视点阵模式通过显微镜观察对样品进行多点定位测试通过
- 多个测试模式：可使用用户自定义程序根据需要设置测试参数
技术指标
| 载荷 |
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| 大载荷 | 30 N |
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| 分辨率 | 6 μN |
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| 本底噪音 | <100 [rms] [μN]* |
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| 位移 |
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| 大位移 | 1000 μm |
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| 分辨率 | 0.03 nm |
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| 本底噪音 | <1.5 [rms] [nm]* |
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| 载荷框架刚度 | > 107 N/m |
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| 标准 | ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507,
ASTM E384 |
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*理想实验室条件下规定的本底噪音值，并使用减震桌。
