其他品牌 品牌
代理商厂商性质
北京市所在地
SpectraScan-R根系光谱扫描成像分析系统是一套于离体(ex-situ)根系VIS-NIR波段光谱扫描成像分析的仪器系统,完整植物根系取土后可直接进行可见光近红外高光谱扫描成像分析,还可以进一步经过洗根后扫描成像然后通过专业软件进行根系分析,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等,还可以分析新生根系、根系水分分布、根系生化结构二维时空分布成像等,甚至可以通过高光谱技术二维成像分析根系土壤基质有机碳、水分含量等时空动态变化。功能强大,操作简单,软件可分析植物根系的形态,色彩、分级伸展分析及根系的整体结构分布等等。可广泛应用于植物根系动态、植物表型分析、植物胁迫、土壤生态修复、湿地监测等领域。
SpectraScan-R根系光谱扫描成像分析系统利用高质量RGB图形扫描仪及高光谱成像系统,获取高分辨率植物根系可见光图像及高分辨率光谱数据,然后通过专业分析软件对根系形态结构、光谱特征、生化组成等进行分析。扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统,并且在扫面板上预留了双光源校准区域。扫描时,扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品,这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响,有效地保证了获取的图像质量。
WinRHIZO软件可以读取TIFF,JPEG标准格式的图像。针对获取的图像,利用插入加密钥匙解密的软件,同时配合厂家针对扫描仪配置的Scanner.cal校准文件,对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数;利用软件的色彩等级分析功能、高光谱成像分析,还可以对根系RGB、近红外光谱进行分析,从而进行根系存活数量、水分、根系生长和营养状况、土壤基质等方面进行分析研究;利用软件的高级分析功能,还可以对完整的植物根系图像进行根系连接分析(研究根系分支角度、连通性等形态特征)、根系拓扑分析(研究根系连接数量、路径长度)和根系分级伸展分析(记录根系整体等级分布情况)。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。
光谱扫描设备类型及区别见下表:
| STD4800 | LA2400** | VIS-NIR | NIR |
描述 | RGB高质量高速扫描仪 | RGB多功能、高速扫描面积大的扫描仪 | 400-1000nm波段高光谱扫描成像 | 900-1700nm近红外波段高光谱扫描成像 |
可否在野外使用 | N | N | Y | Y |
是否需要电脑操作 | Y | Y |
| Y |
分辨率DPI(点/英寸) | 4800 | 2400 | 512x512,或1024x,可选配更高分辨率 | 640x |
扫描速度 | 较快 | 快 | 330fps | 670fps |
大扫描面积cm | 21.6x28 | 30x43 | 可局部或任意大小完整根系 | |
是否可对土壤基质扫描 |
|
| Y | Y |
是否适合WinFolia | Y | Y |
|
|
是否适合 WinRHIZO | Y | Y |
|
|
是否适合 WinSEEDLE | Y | Y |
|
|
是否适合 WinDENDRO | Y | Y |
|
|
**WinRhizo Pro版本包括蓝色背景板
1、不同版本WinRhizo主要技术指标:
整体参数 | 基本版 | 标准版 | 专业版 | 拟南芥版* |
总长 | Yes | Yes | Yes | Yes |
平均直径 | Yes | Yes | Yes | Yes |
总面积 | Yes | Yes | Yes | Yes |
总体积 | Yes | Yes | Yes | Yes |
根尖、分叉和交叠计数 | Yes | Yes | Yes | Yes |
根直径等级分布参数 | ||||
长度 | No | Yes | Yes | Yes |
面积 | No | Yes | Yes | Yes |
体积 | No | Yes | Yes | Yes |
根尖计数 | No | Yes | Yes | Yes |
* 拟南芥版具有专业版所有功能,另外还可针对拟南芥类植物的细小、交叉根系进行测量
2、VIS-NIR光谱扫描成像分析: