• 超高精度，*高性能
• 电冷却Si-Pin半导体探测器代替液氮冷却探测器
• 专门开发的软件，界面友好
• 自由选择滤镜和准直仪自动切换
• 多变量非线性回归程序；独立矩阵效应校正模型
• 三重安全保护模式；钢材结构; 优雅时尚
• 手动打开和关闭样品室，安全便捷
• 信噪增强器（SNE ），大大提高了测量的稳定性和准确性
• 内置高分辨率摄像头，方便用户随时分析样品

 工作原理

当某些元素受到X射线轰击时，会发射出电子，从而使能量从外壳中释放出来。电子可以从原子的内壳中弹出，从而使它们从更高的层次下降。当此事件发生时，称为“特征X射线”。

X射线荧光过程
a致辐射的x射线和特征性x射线是由电子束产生的，这是由XRF分析仪用X射线轰击样品的原子而发生的。每个电子跃迁都发射特征X射线（荧光光子），其能量等于特定元素在两个壳之间的能量差。电子在相同元素的所有原子中具有相同的固定能级，每个类似的电子跃迁均发射相同离散能量的X射线。因此，当电子从同一元素的原子中射出时，发出的X射线是相同的。