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LNP-3LNP系列高低温探针台

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产品简介

LNP系列高低温探针台为小尺寸样品测量电特性提供高精度可控测量环境实现精准可靠的测试与测量分析

LNP系列高低温探针台为小尺寸样品测量电特性提供高精度可控测量环境。

应用方向:

探针台可实现精准可靠的测试与测量分析，帮助精准测量

和分析判断晶圆器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特

性测试、LD/LED/PD的光强/波长测试，射频特性器件失效分

析，芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案

LNP系列高低温探针台

探针台是一种测试设备，用于测试电子元器件、电路板或系统的性能和功能。探针台通常包括一个平台，上面装有用于连接和测试待测试物品的探针。通过探针台，可以快速、准确地检测出待测试物品的各种参数和功能，帮助提高生产效率和产品质量。在电子制造和测试领域，探针台被广泛应用。

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