70nm超高分辨率校准标样（for AFM、SEM、Auger和 FIB）

    条纹70nm间距，一维排列，精确到±0.25nm。分带证书和不带证书两类。带有证书的间距需要参考证书上的实际数字。精确全息条纹适用于超高分辨率显微镜（25kx-1000kx）的水平方向的精确校准，以及纳米尺度上准确校准仪器等等。具有高稳定性和高适用性特性。

70nm超高分辨率校准标样基本信息：

    硅片大小：4×3×0.5mm，图案二氧化硅制造（脊宽35nm，高35nm，此参数无校准）。

    提供的产品有两种型号：Model 70-1D和Model 70-1DUTC。其中的Model 70-1D校准标样, 带有制造商的认证, 不可溯源；Model 70-1DUTC校准标样, 认证, 可溯源, 提供证书（PTB,a German counterpart of NIST）。

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