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单晶硅标准样（Silicon Test Specimen）
单晶硅标准样，即可用于扫描电镜放大倍数的校准（同时评估图象扭曲度），也可用于光学显微镜。5mm x 5mm见方，每10µm (0.01mm)有一方格，格与格之间分割线大约为1.9µm宽，每隔500µm有一稍宽的分隔线（便于用于光学显微镜）；分隔线由光蚀刻形成，约200nm深。不同样品均可以直接放置于上，从而为低倍电镜或者光镜进行内部标定。
以下是产品的货号、名称和规格可根据扫描电镜型号的不同选择试样及所带的样品台。
产品订购信息：
产品货号 | 产品名称 | 产品规格 |
79502-01 | Silicon Test Specimen, Unmounted单晶硅试样 | 1 |
79502-10 | Silicon Test Specimen, Unmounted | 10/pk |
79502-12 | Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub | 1 |
79502-20 | Silicon Test Specimen for Incident LM | 1 |
79502-30 | Calibration Certificate证书 （需另选择单晶硅试样） | 1 |
