测量铜合金仪器

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、液相色谱仪（LC）、能谱仪（EDS）、频红外碳硫分析仪（CS Analyzer）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质（环保ROHS和卤素检测）：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、、商品检验、质量检验、人体微量元素检验等等。总之销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测。

检测钢铁元素成分含量（含各种合金，不锈钢等），简单方便的是X荧光光谱仪（手持式或台式），精度更高稳定性更好的是实验室使用的专业测试钢材成分设备的是OES光电直读光谱仪，介绍如下：

X射线荧光光谱分析仪：

X射线荧光光谱分析仪 应对有害元素检测、油品分析、矿石分析、合金分析、电镀镀层、环境分析的产品，目前正服务于各大重要部门。

手持式仪器资料：

详细信息

合金分析仪用途及应用领域
用于现场，无损，快速，准确分析检测合金元素和合金pai号的识别。
•  合金材料鉴别（PMI）

•  废旧金属回收
   废旧金属的回收、再利用需要Delta合金分析仪，确保对大量繁杂多样的合金种类及材料品质，进行现场快速准确的分析检测。为购销双方在原材料交易时作出迅速、可靠的判定，

•  质量保证与质量控制（QA/QC）
   在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。Delta合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的飞机制造商的各种制造业。已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的shou选仪器.
可分析的常见合金
铁合金系列：不锈钢、铬/钼合金钢、低合金钢、工具刚
镍基合金系列：镍合金、镍/钴超合金
铝合金
钛基合金系列
铜基系列：青铜、黄铜、铜镍合金
钴基合金系列
温合金：
钼钨合金
混杂合金系列
仪器自带384个标准合金pai号，用户可自定义300多种合金等级pai号
分析模式及其所分析的元素范围
元素分析范围：从22号元素钛到94号元素钚Pu。
FastID快速识别模式：384种标准合金pai号等级及客户自定义300多种合金pai号等级。
(可以根据客户需要增加其他元素)
du家专有的仪器接驳座

工作空闲时，用于放置仪器
• 内置校验标准块，可让仪器即时标准化
• 可同时对仪器内置电池及备用电池充电，并显示充电状态
• 接驳座配备USB数据线，可将仪器与电脑连接交换数据

分析软件
基于windows CE 的分析软件
• 超大的图标显示，菜单式驱动

的技术性能
• 的X射线管，无压电源线，无RF噪音干扰。更好的X射线屏蔽。
•  整机使用铝合金固定和保护，顶部加开槽式散热装置，根本性解决XRF仪器存在的散热问题。
•  工业级触摸显示屏与主机一体化密封设计，坚固耐磨，不易划伤。
•  显示屏采用白光显示技术，强烈阳光下也能清晰显示，且能耗低。
•  基于windows CE 6.0的Innov-x分析软件。
•  超大的图标显示，菜单式驱动，使用和操作更轻松、更简单。
•  更快的分析速度，2秒即显示分析结果，可现场查看光谱。
•  现场获取校准曲线。
•  采用多光束技术，使轻质元素的分析效果达到佳。
•  集成的气压计。
•  内置加速器，即节能，又可延长仪器使用寿命。
•  超大内存2G存储器
•  浮点运算、CPU532M，ARM1136-MX31处理器
•  仪器可存储电能，更换电池时无须关机。

台式仪器资料：

性能特点
效超薄窗X光管，指标达到水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
标准配置
效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
信噪比电子线路单元
内置清晰摄像

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