XRF镀层厚度检测仪

系列X射线荧光分析测厚仪特点：

系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术，该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的22到U92，并且具有不同大小的样品舱。

系列镀层测厚仪的优势

• 操作简单，只需要很少的培训就可以操作

• 检测速度快，无损检测只需几秒钟

• 可测试单层及多层镀层的厚度

• 可以测试电镀液中金属离子含量

• 对测试样品*无损

• 市场上性价比

• 自动化批量检测：可选配XYZ全自动工作台

• 应用行业广泛：电子，珠宝，金属加工等等

操作软件

可选软件模块

• µ-Master 用于镀层厚度测量

• Element-Master 用于材料分析

• Report-Master 用于生成报告文件

• Data-Master 用于数据库管理

• %-Master 用于材料分析（珠宝）

• Liquid-Master 用于电镀液分析

选配置

• 自动的多准直器系统

• 软件控制XYZ轴实现自动化批量检测

系列技术特点

一、功能

1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

• 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

• 镀层层数：多至5层。

• 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。

• 测量时间：通常35秒-180秒。

• 样品尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x)。

• 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

• 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

• 同时定量测量8个元素。

• 定性鉴定材料达20个元素。

• 自动测量功能：编程测量，自定测量；修正测量功能：底材修正，已知样品修正
  定性分析功能：光谱表示，光谱比较；定量分析功能：合金成份分析
  数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。

二、特点

• 具有多种测试功能，仅需要一台仪器，即可解决多种测试

• 仪器操作简单，便可获得很好的准确性和重现性

• 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
  镀层分析:可分析四层以上厚度,的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

售后服务

• 交货期：公司将严格按照商务合同约定及时交货，确保到货时仪器的各个系统完整性并符合商务合同所规定的供货范围。

• 安装准备：在仪器到达客户工作现场后书面告诉仪器安装条件，客户根据安装条件做好准备工作。公司派遣经过培训并考核合格的工程师在规定的时间到客户现场安装、调试仪器。

• 安装和现场培训：公司原厂工程师负责免费安装、调试，现场培训操作人员，使参训人员能正常操作仪器、初步会判断故障、简单维护保养。

• 仪器保修: 仪器保修期为自安装验收合格之日起24个月或发货后27个月，先到者为准。保修期内，由于非人为或不可抗力因素，造成仪器故障及损坏，将无偿负责解决(消耗品除外)。通常将在4个工作小时内给予实质性响应。

• 终身维修服务: 保修期后，将继续免费提供仪器技术咨询和支持，有偿提供维修服务，有偿供应备品备件。

• 技术交流：公司将按计划对用户实施回访，解答用户技术问题。并不定期举办行业用户交流会，为用户提供交流平台；

XRF镀层厚度检测仪