ICT4040XP/4880XP/8080XP 电路板故障检测仪
keqi[ICT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。
产品特点：
| ◆先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好 |
| ◆友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家 |
| ◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修 |
| ◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库 |
| ◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能 |
| ◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较 |
| ◆与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便 |
| ◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试 |
| ◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试 |
工作原理： 全功能ASA+ICT测试器
ASA（Analong signature Analysis）对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻抗性图并在CRT上显示、且可存储，以备比对。所有测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。
ICT（In circuit Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态，元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。
[ICT]系列检测仪检测更加可靠准确
■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠 ■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试集成电路在线功能测试
集成电路在线状态测试
本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、4000/45000逻辑IC、75系列接口IC各种存储器等千余种集成电路。
1、快速测试：直接显示测试结果，迅速确定可疑IC
2、分析测试：显示全部测试过程，测试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因
3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。
集成电路在线状态测试
通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。
1、状态学习：在线学习*IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中
2、状态比较：同故障板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏
3、状态显示：显示存入电脑库中的各IC的状态资料。
集成电路离线功能测试
离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片
IC逻辑图查询
可查阅逻辑电路的逻辑功能图，管脚图及部分参数。
V/I曲线测试
通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC
1、学习：在线学习*板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中
2、曲线比较：同故障板上相应节点的动态阻抗曲线进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC是否损坏
3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大
网络提取测试
使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采用了四种模式：
| 1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式） | 3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式） |
| 2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式） | 4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式） |
开发编译
TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。
| 1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果 |
| 2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加以调整、修改。 |
| 3、4种测试方式： a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分c）循环执行 d）单步运行 |
| 型号 | ICT4040XP | ICT4880XP | ICT8080XP |
| 通道 | ICTF: 40th V/I曲线:40th | ICTF: 40th V/I曲线: 80th | ICTF: 40×2th V/I曲线: 80th |
| 附件 | 双列直插夹具（7件） 表面贴双列直插夹具（7件） 单排式40脚夹具（3件） |
| 价格 | 28,000 | 36,000 | 48,000 |
| 产地 | 科奇仪器 |
补充：ICT4080P/8080P系统功能
| 单个器件功能测试 | IC状态测试 | VI曲线分析 | PROM操作 | LSI在线分析 | 数据库整理 |
| 器件端口特征曲线测试 | 系统维修日记 | 使用原测试软件 | TVDE高级测试平台 | 全面网络测试 |
| | | | | | | | | | |
对应于“单个器件功能测试”中的12个功能
| MSI在线功能测试 | MSI离线功能测试 | MSI在线型号识别 | MSI离线型号识别 |
| MS在/离线循环测试 | RAM离线*测试 | RAM在线快速测试 | RAM在线*测试 |
| PROM离线空检测 | LSI离线功能测试 | LSI在线功能测试 | LSI离线测试库更新 |
对应于“PROM操作”中的11个子功能
| PROM离线*学习 | PROM离线*比较 | PROM在线快速显示 | PROM离线学习库内容转换 |
| PROM在线快速学习 | PROM在线快速比较 | PROM在线*学习 | PROM在线*学习库内容显示 |
| PROM在线*比较 | PROM离线学习库内容显示 | PROM在线*学习库内容转换 |
对应于“VI曲线分析”中的4大功能
| VI曲线学习 | VI曲线比较 | VI曲线显示 | 双板直接对比 |
对应于“IC状态测试”中的3大功能
对应于“LSI在线分析”中的3大功能
对应于主框架的17项功能按钮
| 单个器件功能测试 | IC状态测试 | VI曲线分析 |
| PROM操作 | LSI在线分析 | 模拟器件直接测试 |
| 系统自检 | 数据库整理 | 建立系统维修日记文件 |
| 原测试软件 | TVDE高级测试平台 | 全面网络测试 |
| 交叠方式排列窗口 | 非交叠方式排列窗口 | 分割窗口 |
| 主界面 | 进入系统帮助 | |
对应于“模拟器件直接测试”菜单的3大功能
热键
| ·Alt+L 进入“LSI在线分析”界面 | ·Alt+M 进入“数据库整理”界面 |
| ·Alt+N 进入“全面网络测试”界面 | ·Alt+O 进入原测试软件界面 |
| ·Alt+R 进入“PROM操作”界面 | ·Alt+S 进入“IC状态测试”界面 |
| ·Alt+T 进入“系统自检”界面 | ·Alt+V 进入“VI曲线分析”界面 |
| ·F1 获取帮助 | ·Alt+X 退出本系统 |
系统运行环境
| 操作系统 ： Win 9X 或 Windows XP | 内 存 ： ≥16M |
| C P U ： PII 以上 | 硬盘空间 ： ≥25M |
| 显 示 ： 1024×768，24位真彩色 | 鼠 标 ： *，可为任意型号 |
| 电 源 ： 220V/50Hz | |
