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面议中国台湾URPTEKMK350S光谱仪-色温仪
中国台湾URPTEKMK350S光谱仪-色温仪产品特点
主要技术规格
项目 | MK350S | |
传感器 | CMOS 线性传感器 | |
光谱波长宽度(半波宽) | 约12 nm | |
探头窗口 | Ø 6.6 ± 0.1 mm | |
余弦响应 | 参照图1 | |
测量范围 | 20 ~ 70000 Lux | |
光谱波长范围 | 380 ~ 780 nm | |
曝光时间 | 6 ~ 5000 ms | |
量测功能 | 单次/ 连续 | |
曝光模式 | 自动/ 手动 | |
显示模式 | 1. 基本显示模式 | |
2. 光谱显示模式 | ||
3. CIE 1931 色度坐标模式 | ||
4. CIE 1976 U.C.S 色度坐标图模式 | ||
5. 显色指数显示模式 | ||
6. 照度分布影像显示 | ||
7. 连续量测模式 | ||
8. 色温分级模式 | ||
9. 质量检验模式 | ||
10. 量测比对模式 | ||
11. 档案浏览模式 | ||
量测能力 | 1. 相关色温/ 色温分级表 | |
2. 照度/ 烛光 | ||
3. 显色性/ 显色指数 | ||
4. 光谱图 | ||
5. C.I.E 色度坐标图 | ||
(1) CIE 1931 x,y 坐标图 | ||
(2) CIE 1976 U.C.S u',v' 坐标图 | ||
6. 峰值波长/ 主波长 | ||
7. △x,△y,△u',△v' | ||
8. duv, Purity | ||
9. PPF(400nm~700nm) | ||
10. BIN | ||
数字分辨率 | 16 bits | |
归零校正 | 有 | |
杂散光 | -25 dB max.(使用550nm单频光输入与量测± 40nm 范围内的量测比例值) | |
波长数据输出间隔 | 1 nm | |
波长再现性 | ± 5 nm(输入须为稳定光源) | |
照度精度 | 标准光源A @ 2856K 于20000 Lux | ± 5% |
色坐标 | ± 0.0025 in CIE 1931 x,y | |
重复性 | ± 0.0005 in CIE 1931 x,y | |
相关色温 | ± 2% | |
显色性 | ± 1.5% | |
显示 | 4.3" LCD 800X480 触控面板 | |
档案储存数 | 约2000 档案@ 2GB SD Card | |
电池操作时间 | ≦4 hours / 充饱电 | |
电池种类 | 2500 mAh / 可充电式锂电池 | |
数据输出接口 | SD Card / USB 2.0 | |
数据格式 | 支持微软Excel / JPG 文件格式 | |
尺寸 | 163 x 81 x 25.8 mm ( 长x 宽x 高) | |
重量( 含电池) | 250 g ± 5 g | |
操作温度 | 0 ~ 35 °C | |
储存温度 | -10 ~ 40 °C | |
语言选择 | 英文/ 繁体中文/ 简体中文/ 日文 | |
图1:余弦响应 |