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XK-DZW-I 电阻温度性测定仪
XK-DZW-I 电阻温度性测定仪采用的电子﹑数控,用于测试各种导电材料介质(电阻)的阻值随温度变化的值,通过绘制电阻,温度曲线,可以直观地定性分析电阻温度变化率。适用于大院校电子材料实验室等的研究和各教学演示用。
主要参数
(1) 温度范围:室温-130℃ (zui可达300℃)
(2) 电阻范围:0-1MΩ
(3) 加热率:0-300W可调
(4) 电源:220V±10% 频率:50Hz
(5) 环境温度:0-40℃
(6) 环境湿度:≦85%
(7) 外形尺寸:560×530×400mm
2.
产品名称:智能数字压力校验仪 产品型号:JH-HR-YBS-DB |
智能数字压力校验仪 型号:JH-HR-YBS-DB
型号 | 测量范围(℃) | 示度%FS(保证温度范围℃) |
K | -270~1360 | ±(0.005% RD+0.005% FS)(-150~1360) |
N | -270~1280 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (-100~1280) |
R | -50~1760 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (50~1760) |
S | -50~1760 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (50~1760) |
T | -270~400 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (-100~400) |
B | 50~1800 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (500~1800) |
E | -170~1000 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (-150~1000) |
J | -210~1200 | ±(0.005% RD+0.005% FS) (-150~1200) |