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X-4BII显微熔点仪
X-4BII显微熔点仪产品特征
1、仪器采用显微镜观察方法，既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定；
2、带有防风罩，减少了环境对测试结果的影响。
X-4BII显微熔点仪
X-4BII显微熔点仪产品特征
1、仪器采用显微镜观察方法，既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定；
2、带有防风罩，减少了环境对测试结果的影响。
X-4BII显微熔点仪技术参数
| 仪器型号 | X-4BII |
| 测量范围 | 室温~320 ℃ |
| 测量方法 | 目视 |
| 测量模式 | 毛细管法、热台法 |
| 最小示值 | 0.1℃ |
| 重复性 | ≤200℃ ±1℃ ＞200℃ ±2℃ |
| 观察方式 | 双目体视显微镜 |
| 放大镜倍数 | 40×-100×变倍 |
| 电源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
| 仪器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
| 仪器净重 | 4.5kg |
