MATS-3000M硅钢材料测量装置

MATS-3000M硅钢材料测量装置

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-07-25 11:37:33
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产地类别:国产;应用领域:医疗卫生,化工,生物产业,石油,地矿;
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医疗卫生,化工,生物产业,石油,地矿
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产品简介

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MATS-3000M硅钢材料测量装置是基于computer(计算机)、Software 软件、A/D数据采集和ARM嵌入式系统等技术应用条件下的专业磁测量设备。
运用数字波形补偿和数字反馈技术,可准确测量电工钢片(带)、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料材料在20Hz~2kHz频率范围内的交流磁性参数:比总损耗Ps、磁极化强度Jm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅磁导率,以及交流磁化曲线

详细介绍

产品简介

MATS-3000M硅钢材料测量装置是基于computer(计算机)、Software 软件、A/D数据采集和ARM嵌入式系统技术应用条件下的专业磁测量设备。

MATS-3000M硅钢材料测量装置运用数字波形补偿和数字反馈技术,可准确测量电工钢片(带)、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料材料在20Hz~2kHz频率范围内的交流磁性参数:比总损耗Ps、磁极化强度Jm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅磁导率,以及交流磁化曲线和损耗曲线。

主要特点

 

装置技术参数

1工作环境

输入电源

单相200V~240V,50Hz±10%,大10A

使用环境

环境温度:23±5℃;环境湿度:30~75%RH

外磁场干扰

应避免

热平衡时间

10分钟

2、测量范围

适用标准

GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6

测量材料

可测量电工钢(硅钢)、软磁铁氧体、坡莫合金、非晶/纳米晶和电工纯铁等软磁材料

样品形状

可采用爱泼斯坦方圈或磁导计测量片状和条状等开路样品

可绕线测量环形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和双孔等闭路样品

测量参数

Ps、Jm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等参数。

3、装置参数

        型号

参数

MATS-3000M/k50A

MATS-3000M/k50B

MATS-3000M/k50C

大输出功率

500VA正弦波(20Hz-40Hz:150VA;40Hz-1KHz:500VA;1KHz-2K Hz为350VA)

频率范围

20Hz~2k

40Hz~1.2k

40Hz~1k

频率细度

1Hz

输出电压

0~1V~10V~50V~150V 四档自动量程

大输出电流

0~10A

电流采样

6.33mA~20A,八档自动量程

电压采样

1V~316V,六档自动量程

测量模式

锁B

锁H

波形补偿

谐波测试

保护功能

过热、过流、过压和参数保护

数据采集卡

采样速率:40MHz×2通道;分辨率和线性度:12Bit±1/2LSB

工控计算机

研华IPC-510或研祥IPC-810

操作系统

Windows XP或Windows 7

打印机

黑白激光打印机

4、系统参数

4.1依据国标GB/T 3655-2000,在50Hz、60Hz频率下,使用25cm爱泼斯坦方圈测量30×300的硅钢标样,技术指标如下:

被测参数

Ps(%)

Ss(%)

Hrms(%)

Bm(%)

Hm(%)

不确定度(k=2)

1

1

2

1

2

重复性(恒温)

± 0.5

± 0.5

± 1

± 0.5

± 1

备注

锁B测试:无取向片Bm≤1.5T

取向片Bm≤1.7T

锁H测试:无取向片Hm≥1000A/m

取向片Hm≥500A/m

       

4.2依据国标GB/T 13789-2008,在50Hz、60Hz频率下,使用SST-500单片磁导计测量500×500的硅钢标样,技术指标如下:

被测参数

Ps(%)

Ss(%)

Hrms(%)

Bm(%)

Hm(%)

不确定度(k=2)

1.5

1.5

2

1

3

重复性(恒温)

± 0.5

± 0.5

± 1

± 0.5

± 1

备注

锁B测试:无取向片Bm=0.8~1.5T
取向片Bm=1.0~1.8T

锁H测试:无取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m

       

4.3、依据国标GB/T 3658-2008,在20Hz~2kHz频率下,测量坡莫合金环形试样,技术指标如下:

被测参数

Ps(%)

μa(%)

δ(%)

Bm(%)

Hm(%)

不确定度(k=2)

3

2

-

1

1

重复性(恒温)

± 1.5

± 1

± 1

± 0.5

± 0.5

备注

1、试样应为薄壁环,外径/内径≤1.25。
2、测试前应先退磁,退磁场频率≤测试频率。
3、不确定度为“-”,表示国标中不要求。

4.4、依据国标GB/T 19346.1-2007,测量非晶环形试样,技术指标如下:

被测参数

Ps(%)

Ss(%)

μa(%)

δ(%)

Bm(%)

Hm(%)

不确定度(k=2)

5

5

3

-

1

2

重复性(恒温)

± 3

± 2.5

± 2

± 2

± 0.5

± 1

备注

.试样应为薄壁环,外径/内径≤1.5。

.锁B测试,且Bm=100mT~200mT;测试前应先退磁,退磁场频率≤测试频率。

.不确定度为“-”,表示国标中不要求。

软件功能

⑴、操作系统:支持WindowsXP和Windows7(32位)操作系统。

⑵、系统语言:可提供中文或英文操作界面。

⑶、测量模式:支持固定频率、固定Bm或固定Hm等多种测量模式;可自动连续测量,多支持255个测试点。

⑷、采样波形:实时显示I(t)、U(t)、B(t)采样波形,可显示曲线上每一个数据点的坐标信息。

⑸、样品规格:支持环形、EE、EI、CD、矩形、双孔、BS和其它等各种形状样品参数的输入。

⑹、文件管理:有保存数据,删除数据,清除全部数据等功能。

⑺、数据文件:包含采样数据、样品参数、仪器参数和测试方案,文件采用文本格式,可使用记事本、

word或Excel表格打开。

⑻、数据导出:测试数据可直接输出到Excel表格、word文档或JPG图片。

⑼、曲线显示:可显示B(H)磁滞回线;进行多点组簇后,可显示B(H)磁滞回线簇、B(H)磁化曲线、μa(H)磁导率曲线和Ps(B)损耗曲线,可显示曲线上每一个数据点的坐标信息;可将不同条件下测得的B(H)磁化曲线和Ps(B)损耗曲线组合到一张图纸上,以便进行对比分析。

⑽、合格判定:按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等参数设定上下限,对测试结果进行合格判定,通过数据表格的颜色来确定。

⑾、测试报告:包含完整的曲线图、测试结果、测试条件和样品参数;可打印、预览、保存JPG图形、E-mail发送JPG图片文件;可在测试报告上添加用户标志和企业名称。

⑿、单位制式:有多种单位制式可选,以保证不同用户各自的使用习惯。

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