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一、实验内容：
1.测定直导体和圆形导体环路激发的磁感应强度与导体电流的关系
2.测定直导体激发的磁感应强度与距导体轴线距离的关系
3.测定圆形导体环路导体激发的磁感应强度与环路半径以及距环路距离的关系
4.亥姆霍兹实验
二、技术参数：
1.外型尺寸：平台式高精密铝制：525*380*380
2. 横纵双向导轨移动测量方式；
3. 待测一体式圆环直径40mm、80mm、120mm。
测量距离±100毫米
4.仪器有零高斯室和标准磁场和亥姆霍兹线圈
5.待测直导线样品：φ5*300 测量距离：0~50
6.探测器磁场测量范围：0-10.000mT精度1uT
7.电流显示：0~10A(稳定连续可调节）
