半导体芯片测试高低温温度冲击试验箱厂家
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COK-UK50-2P半导体芯片测试高低温温度冲击试验箱厂家

参考价: 订货量:
136500 1

具体成交价以合同协议为准
2023-06-17 08:50:02
520
属性:
产地类别:国产;价格区间:10万-20万;应用领域:电子,冶金,航天,汽车,电气;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
10万-20万
应用领域
电子,冶金,航天,汽车,电气
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东莞市勤卓环境测试设备有限公司

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产品简介

半导体芯片测试高低温温度冲击试验箱厂家吊篮式冷热冲击试验机用于光伏组件、LED灯管、LED灯具、电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要冷热冲击试验箱的鉴定

详细介绍

一、半导体芯片测试高低温温度冲击试验箱厂家用途:

   吊篮式冷热冲击试验机用于光伏组件、LED灯管、LED灯具、电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要冷热冲击试验箱的鉴定

二、半导体芯片测试高低温温度冲击试验箱厂家详细参数:


一、产品属性

1.1容积:80L

1.2工作室尺寸

350*400*350mm (宽×高×深)

1.3 外形尺寸

1400*1915*1950mm(宽×高×深)

1.4 冲击形式

低温高温按程序自动交变,转移样品提篮,提篮式.

1.5供电电源

380V±10%,50Hz±1

二、主要技术参数

三、

2.1 高温室

高温蓄温箱温度范围

+60℃~+180℃

高温冲击温度

+60~150℃

2.2 低温室

低温蓄温箱温度范围

-10℃~-60℃

低温冲击温度

-10℃~-40℃

 

 

2.3.工作室

 

 

 

温度波动度

≤0.5℃

温度偏差

≤±2℃

温度均匀度

≤2.0℃(左右循环风道温度均匀性更完善)

高低温转换时间

≤10S

高低温恢复时间

≤5min(空载下非线性)

预热区升温速度

≥3~5℃/min(非线性)

预冷区降温速度

≥1.2℃/min(非线性)

2.4冲击温度范围

-40~150℃

2.5噪音

70dB以内

2.6化霜周期

1000次循环无需要化霜(常规30个循环就化霜)

 


2.7 满足试验标准

1、1.IEC 60068-2-14环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化,

2、GB/T 2423.22环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化,

3、GJB 150.5装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验,

4、JESD 22-A106B.01-2016温度冲击  等。。。







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