单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3_硅单晶寿命测试仪-北京卓川电子科技有限公司手机版

单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3

参考价: 面议

产品属性

关闭

北京卓川电子科技有限公司

免费会员第15年

产品简介

单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3
*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
*.测试单晶电阻率范围： >0.3Ω.cm；
*.可测单晶少子寿命范围： 1μS-10000μS；......

单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3 特点:

*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；

*.测试单晶电阻率范围： >0.3Ω.cm；

*.可测单晶少子寿命范围： 1μS-10000μS；

*.配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；

余辉<1 μS；闪光频率为：20-30次／秒；

*.前置放大器：放大倍数约25；

*.测量方式：采用对标准曲线读数方式；

上一篇：应用分享｜少子寿命测试仪(MDP)针对碳化硅器件性能优化的关键作用下一篇：访谈专稿 | 华中科技大学冯哲川教授：科学探索与国家发展共进

热线电话 在线询价

提示

请选择您要拨打的电话：

当前客户在线交流已关闭

请电话联系他 :

确定