ElektroPhysik/德国EPK 品牌
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上海市所在地
德国EPK*涂层镀层测厚仪
Mintest 1100-4100系列涂镀层测厚仪
德国EPK公司Minitest 4100-3100-2100-1100测厚仪用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：
• 钢铁基体上的非磁性覆层
• 有色金属上的绝缘覆层
• 绝缘基体上的有色金属覆层
| 可选探头 | |
| 测头 F05 | 铁基体涂镀层 0-500um 低端分辨率0.1um |
| 测头 F3 | 铁基体涂镀层 0-3000um 低端分辨率0.2um |
| 测头 F1.6 | 铁基体涂镀层0-1600um，低端分辨率0.1um |
| 测头 F1.6P | 铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um 低端分辨率0.1um |
| 测头 F1.6/90 | 铁基体涂镀层 测管内壁 0-1600um，低端分辨率0.1um |
| 测头 F10 | 铁基体涂镀层 0-10mm,分辨率5um |
| F20 | 铁基体涂镀层 ,0-20mm,分辨率10um) |
| 测头 F50 | 铁基体涂镀层 0-50mm，分辨率，10um |
| 测头 FN1.6 | 铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um |
| 测头 FN1.6P | |
| 测头 FN1.6/90 | 铁及铜铝基体上未固化粉末涂层0-1600um,分辨率0.1um |
| 测头 N02 | 铜铝基体涂层 0-200um，分辨率，0.1um |
| 测头 N08 Cr | 铜基体上镀铬层 0-80um,分辨率0.1um |
| 测头 N02 Tu | 铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um |
| 用于测头N02 Tu的支架 | |
| 测头 N1.6 | 铜铝基体涂层0-1600um,分辨率0.1um |
| 测头 N1.6/90 | 铜铝基体涂层 测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um |
| 测头 N10/2,N20 | 铜铝基体涂镀层0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um |
| 测头 N100 | 铁及铜铝基体涂镀层0-100mm,分辨率100um |
| 测头 CN 02 | 敷铜板等10-200um,分辨率0.2um |
| 测头F 2 （ 250 °C） | 铁基体上涂层，250度高温探头，量程0-2mm |
| 测头F 2 （ 350 °C） | 铁基体上涂层，350度高温探头，量程0-2mm |
| F 2/90 | 铁基体上涂层，90度直角探头，量程0-2mm |
| N 2/90 | 铁基体上涂层，90度直角探头，量程0-2mm |
| FN 2/90 | 铁及铜铝基体上涂层，90度直角探头，量程0-2mm |
| 精密探头支架 | |
| RS232 接口电缆 for 2100/4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
| MSOFT41 数据分析软件for4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
