XPE分析天平采用*的设计，将称重传感器和电子元件安装在天平的背部。 您可获得的利益：不受散热影响且易于清洁，因此可获得更好的称量性能。 获得的设计具备以下关键特征：

• SmartGrid技术能够以zui快速、清洁的方式完成称量任务

• 内部温度控制(ITC)装置无需单独或外部电子元件即可确保获得zui小称量值。

• proFACT 高级版本确保准确性和温度稳定性并符合内部测试规定

良好的称量规范

新型XSE和XPE分析天平依照GWP研发而成。 梅特勒-托利多开发出GWP(Good Weighing Practice)，作为安全选择、校准和操作称重设备的标准化科学方法。GWP提供的可再现性称重结果书面凭证符合当前所有实验室和制造业的质量标准。 关注稳定的过程、*的产品质量、精益制造或遵守法规的用户可使用GWP作为选择和校准其称重设备的基准。

清洁、安全

• SmartGrid网格称盘：所有溢出的样品都可通过秤盘落下，而不会影响您的称量结果，下方的滴盘可轻松地捕获溢漏的任何固体和液体，以便安全处理。

• 防风罩：zui大限度降低样品污染风险：防风罩和滴盘无需工具即可在数秒钟内*拆卸。

• 可在洗碗机中安全清洗：所有部件均可在洗碗机中方便、*地清洁。

技术参数