宇时超声波测厚仪PM-5采用超声波测量原理，利用单晶延迟探头，从被测工件的一侧向材料内发射声波，对其厚度进行实时的数字化测量，而无需切开被测工件，是一种超小型测量仪器。本仪器利用多次回波提高精度，使分辨率可达0.001mm,测量下限低至0.15mm。并且提供A、B扫描功能，通过回波显示可以帮助使用者更好的控制测量，使测厚范围更广，测量数值更精确，也可避免在测量中与材料相关的误差，这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种材料超声测厚应用，它能快速，无损伤，精确地进行测量；具有彩色高清晰2.4寸液晶显示屏，无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性，测厚仪的按键区非常简洁，且符合人体工程学,操作人员使用单手即可操控键区，可轻松访问仪器的所有功能。

宇时超声波测厚仪PM-5技术参数：

探头:

带延迟块探头(单晶探头)探头无需校零，线性精确，是一般测厚的理想选择。延迟块有效防止探头磨损以延长使用寿命。

连接线:

定制的标准工业接口，采用注塑工艺确保了接口和线的良好链接，整体高柔韧性，耐油污，抗紫外老化，长期使用不易老化变硬。

实用功能：

超声波测厚仪PM-5+,A扫描波形显示功能可以调整增益、范围、闸门、消隐、E消隐、极性、类型和相位等参数，以保证得到正确的波形和精确的测量值。