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C84-III反射率测定仪
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上海银泽仪器设备有限公司
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一、反射率测定仪C84-III产品简介: 该机可用于漆膜遮盖力的测定和反射率的测量。 二、反射率测定仪C84-III技术指标: 测量范围:0-100 重复精度:0.3% 显示数据与反射光强度成正比 仪器的光谱灵敏度近似等于Sc(λ)与y(λ)的乘机 环境温度:23℃+/-5℃,相对湿度<85% 输入电源:220V+/-10%50Hz
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