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北京市所在地
X4显微熔点仪
技术参数
样品量<1mg/次;测量范围室温-320℃/±1℃;工作距离105mm;放大倍数20X-40X,视场直径:10mm-5mm
配置
控制箱/加热测温台/温度传感器/载玻片/换档体式显微镜/隔热玻璃/散热器/镊子
X5显微熔点仪
技术参数
样品量<1mg/次;测量范围室温-320℃/±0.5℃;工作距离105mm;放大倍数20X-40X; 视场直径:10mm-5mm
配置
控制箱/加热测温台/温度传感器/载玻片/换档体式显微镜/隔热玻璃/散热器/镊子
X6显微熔点仪
技术参数
样品量<1mg/次;测量范围室温-320℃/±0.5℃;工作距离105mm;放大倍数7X-90X; 视场直径:2.7mm-33mm
配置
控制箱/加热测温台/温度传感器/载玻片/换档体式显微镜/隔热玻璃/散热器/镊子
型号 倍率 技 术 参 数 单位 售价¥ 备注
X4A 20X-40X 室温-320℃/±1℃数字显示 台 换档变倍
X4B 20X-80X 台 换档变倍
X5A 20X-40X 室温-320℃/±0.5℃,数显微电脑程序 台 换档变倍
X5B 20X-80X 台 换档变倍
X6A 7X-90X 室温-320℃/±0.5℃,数显微电脑程序,预定温度报警,自动打印测量结果 台 连续变倍
X6B 7X-180X 台 连续变倍