OPA-1000在线电镀液分析仪基于元素分析的实时过程控制，满足检测制造铜箔过程中在线电镀液(液流)成分检测要求，最多可测试80多种化学元素，检测限从ppm水平到重量百分比(wt%)浓度。
采用先进的第四代能量色散X射线荧光(EDXRF)技术，天瑞仪器OPA1000液流及固定位置的连续卷材生产在线元素分析的潮流。本设计用于跨越从重工业到食品级生产过程测量的解决方案，天瑞仪器OPA1000可配置为用于产品分类及非分类工作领域。

OPA-1000在线电镀液分析仪性能及优点
基于元素分析的实时过程控制
测定元素铝13AI至铀92U
从ppm水平到重量百分比(wt%)浓度
坚固耐用的天瑞近光路设计+光学内核与SDD探测器
工业级触摸屏的用户界面
易用的经验校准及常规操作
非分类应用领域的多重远程分析测量头
不使用危险的放射性同位素

成熟的技术和性能
为实现分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件选自于天瑞仪器QC+高分辨率台式仪器。借助这种成熟的技术，天瑞OPA1000提供快速、非破坏性、多元素分析一一从百万分之一(ppm)水平到高浓度百分含量一一可分析的元素从铝(13AI)至铀(92U)。
免工具液流单元设计
对于液流的元素分析，一个分析头与一个带有X射线窗口的免工具液流单元组件相配合。X射线窗口容纳了液体流，但对X射线可透射，它通常是一塑料薄膜。
涂层厚度及成分
除了分析液流，OPA1000因其多元素成分及涂层厚度测定的能力，也设计用于连续卷材的应用。测头通常安装在辊轴上的固定位置，以保证测头至样品表面的距离恒定。元素组成可直接测量，涂层厚度也可直接测量(此时，元素的计数率与厚度成正比)，或通过某些基体元素的衰减以间接测量(此时，计数率与厚度成负相关)。

XRF技术
X射线荧光(XRF)，电子吸收从X射线管射出的光(光子)，从内层原子轨道逐出，更高能级轨道的电子跃迁以填补轨道，在此跃迁过程中激发出光子。因为一个特定元素每个原子的两个特定轨道壳层间的能量差总是相同的，发出的光子始终有一个特征能量(KeV)。对于任何的特征能量，探测到的单位时间内的光子数(每秒计数)均与液流中该元素的浓度相关。

广泛的应用范围
聚乙烯/PET制造:TPA和PTA催化剂
金属表面处理:电镀、酸洗和预处理池
采矿业:溶剂萃取
化学品:混合添加剂和树脂
造纸和塑料:释放/屏障涂层、阻燃剂、紫外线稳定剂
纺织及无纺布:阻燃剂、紫外线稳定剂
金属:转化膜，其他表面涂层
石油:润滑油添加剂及混合物
纸浆和纸:水处理
工业:废水