上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数
上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数
上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数

上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数

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2016-10-07 11:48:24
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产品简介

上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数:
波长范围:200-1000nm
波长设定范围:190-1100nm
波长准确度:±0.5nm
波长重复性:0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比准确度:±0.5%T
透射比重复性:0.2%T 应用软件:支持
透射比范围:0.0-125%T

详细介绍

   称:紫外可见分光光度计

   号:756CRT

   牌:菁华

   地:上海

 

上海菁华紫外可见分光光度计756CRT
采用低杂散光1200条/mm高性能光栅,C-T式单色器结构,确保仪器的高分辨率、低杂散光、波长的高精度、良好的光度线性。
*的波长控制系统,可自动设置波长,并具有先进的自动修正波长功能。
采用进口的光电转换器。
除具有光度测试外还具有定量测试功能,采用标准品对照法、标准系数法和线性回归法来直接测定样品浓度。

可供物理学、化学、医学、生物学、药物学等学科进行科研或供化学工业、食品工业、制药工业、冶金工业、临床生化、环境保护部门对各种物质的定量分析用。


上海菁华紫外可见分光光度计756CRT技术参数:

波长范围:200-1000nm
波长设定范围:190-1100nm
波长准确度:±0.5nm
波长重复性:0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比准确度:±0.5%T
透射比重复性:0.2%T 应用软件:支持
透射比范围:0.0-125%T
吸光度范围:-0.301-3A
浓度显示范围:0-99999
杂散光:≤0.3%T@220nm,360nm
稳定性:±0.002A/小时
配有RS232通讯接口
打印机:配备
应用软件:支持

756CRT紫外可见分光光度计同系列参数

型 号

波长(nm)

带宽(nm)

误差(nm)

漂移

752(手动)

200-1000

4

±2

±0.003A

752(自动)

200-1000

4

±2

±0.002A

754(手动)

200-1000

4

±1

±0.002A

754(自动)

200-1000

4

±1

±0.002A

754PC

190-1100

4

±1

±0.002A

755B(手动)

195-1100

2

±1

±0.002A

755B(自动)

195-1100

2

±1

±0.002A

756

190-1100

2

±0.5

±0.002A

756MC

190-1100

2

±0.5

±0.002A

756CRT

190-1100

2

±0.5

±0.002A

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