磁粉参考试块（I型磁粉试块）
本品为我司开发的磁粉探伤使用参考试块,按GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002标准要求进行加工生产而成。本试块是用于确认磁化方向和磁化强度的磁粉参考试块。可广泛应用于磁粉探伤时,对磁粉或磁悬液的性能及灵敏度检验。
使用时无需进行磁化,只要将荧光磁粉或荧光磁悬液直接喷洒在MT-I型试块上,在紫外线灯的照射下即可得到清晰地显示。如果用于检验非荧光磁粉和非荧光磁悬液时,在试块上喷洒薄薄一层的FA-5型反差增强剂,这样显示的痕迹非常清晰。
本试块表面的缺陷分为两种：猝火裂纹和磨消裂纹。本试块的材料：90MnCrV8，表面硬度：63HRC~70HRC。磁化方式1000A直流电中心导体充磁。符合标准：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2
使用方法：
1、本试块装入铝合金盒中,请不要敲击和跌落,以免影响缺陷的显示痕迹。
2、使用荧光磁粉探伤时,只要将荧光磁粉或荧光磁悬液直接喷洒在试块的任何一面均可。在紫外线灯的照射下观察痕迹显示。
3、使用费荧光磁粉探伤时,在MT-I型试块上喷涂反差增强剂,然后将非荧光磁粉或荧光磁悬液直接喷洒在试块上。可直接在白光照射下观察痕迹显示。
4、使用完毕后,务必将试块用水或溶液清洗干净并干燥。
放置时请远离磁场或导磁材料,以免影响试块的灵敏度。
该参考试块是表面带有自然裂纹的圆块，它包含由磨削和应力腐蚀所产生的粗线条裂纹和细线条裂纹。试块采用穿孔中心导体*磁化。用目视或其他方法来评定检测介质。
技术参数：
试块材料：90MnCrV8
表面硬度：63HRC~70HRC
磁化方式：1000A直流电中心导体充磁
符合标准：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002
产品关键字：MTU-3磁粉检测试块  I型磁粉参考试块