日本AET高频介电常数分析仪

对于传统的高频率介电测量，往往需要昂贵的设备，且需具有丰富的微波知识和有经验的操作, 日本 AET 公司开发出高精度测量, 非破坏性的“微波诱电(介电)分析仪, 解决目前高频率介电分析的高成本及不方便性.

利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术。

     消逝模型的电磁场从同轴共鸣器的顶端泄露到样品。

     腔频率和Q因子随样品的复介电常数改变而改变。

     使用德国CST公司3D EM-场模拟软件MW-Studio，计算电磁场

和消逝模型的共振特性，实现复介电常数的高精度测量。

应用领域

•高速数字/微波电路用基底材料

•滤波器和介电天线用低损耗电介质

•化学制品；

•薄膜与新材料；

•半导体材料；

•电子材料（包括CCL和PCB）；

•陶瓷材料；

•纳米材料；

光电材料等

日本AET ,inc.针对CCL/印刷电路板,设计简单空洞共振腔测试装

置 ，只要裁成小长条状,即可量测精确的复介电常数(Dk), 尤其是低

损耗(Df)的样品, 测量值非常精准。

对于传统的高频率介电测量，往往需要昂贵的设备，且需具有丰富的微波知识和有经验的操作, 日本 AET 公司开发出高精度测量, 非破坏性的“微波诱电(介电)分析仪, 解决目前高频率介电分析的高成本及不方便性.

日本AET高频介电常数分析仪利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术。

     消逝模型的电磁场从同轴共鸣器的顶端泄露到样品。

     腔频率和Q因子随样品的复介电常数改变而改变。

     使用德国CST公司3D EM-场模拟软件MW-Studio，计算电磁场

和消逝模型的共振特性，实现复介电常数的高精度测量。