二氧化硅是一种重要的无机材料，在红外光谱分析中具有广泛的应用。红外光谱是通过测量物质在红外辐射区域的吸收和散射来研究其分子结构和化学特性的一种方法。
二氧化硅的红外光谱测定主要基于其分子振动模式引起的吸收峰。在红外光谱图上，常见的吸收峰包括伸缩振动、弯曲振动和对称拉伸振动等。
二氧化硅的主要吸收峰位于1000-1200cm^-1的区域，这些峰代表了硅氧键的伸缩振动。此外，还存在于800-1100cm^-1范围内的Si-O-Si弯曲振动峰。这些振动模式提供了关于二氧化硅的分子结构和键合情况的信息。
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