手足口EV71 IgM快速检测试剂盒

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捕捉跌落嘅初始影响嘅框架畀用嚟量测接触角。一个圆圈畀装配到液滴轮廓上，随后确定接触角。
2）飞行时间二次离子质谱（TOF SIMS）
A. Sample上台喇。呢涉及到首先用干净嘅铝箔衬喺舞台上，呢度有助于电荷补偿，跟住用金属螺旋片保持滑动。
样品台放置喺TOF SIMS嘅传送室中，并允许泵到1.6×10-6毫巴。然后将样品转移到主分析室，其典型嘅真空压力为一×10-8毫巴。
C. ToF SIMS量测使用离子TOF IV仪器进行用，使用单同位素Bi3初级离子源系25 kV嘅“集束模式”用。将脉冲1 Pa一次离子扎喺分析区上进行卷积，将正、负二次离子由微阵列中嘅个个聚合物啲嘅100×100μm区有冇收集，获得十秒嘅采集时间。离子质量测定使用高分辩率飞行时间分析仪允许精确嘅质量派。典型嘅质量分辨率（M/Z 41）啱超过6000。低能量电子（4个eV）用于补偿由绝缘表面8上嘅带正电嘅一次离子扎惹表面嘅充电。
3）原子力显微镜（AFM）
A.具有自动级嘅大阶段AFM用于分析玻璃车玻片上嘅阵列。尺寸或者图标显微镜系用于此目的嘅理想选择。
B. Sample畀放置喺舞台同舞台位置畀归巢到阵列嘅嘅右度角。
发现阵列嘅向下毫嘅位置，呢允许所有其他啲嘅位置畀插值。
d.建置个位表，并将其输入到软件嘅自动采样特征中。
E.AFM量测系使用纳米仪器3000 0A仪器喺敲击模式下进行。使用谐振频率约为300 kHz同力常数为40 n/m嘅矽尖（TAP300铝，预算感知器）。对聚合物嘅5x5μm区域进行咗量测。