产品概述：
EXFO CT440/CT440-PDL光学元件测试仪以其高精度、多通道测量、可调谐激光器兼容以及偏振保持和偏振相关损耗测量等特点，成为光纤通信和光网络测试领域的重要工具。
产品特点：
测试范围广泛：
覆盖从1240到1680nm的频谱范围，适用于整个电信波段上的测量。
可同时测量无源光器件（如复用器/解复用器、滤波器、分光器等）和模块（如ROADM、WSS）的性能。
高精度测量：
波长精准度达到±5pm，波长分辨率在1至250pm之间可调。
单次激光器扫描的动态范围为65dB，确保测量的准确性。
多通道测量：
配备四个内部检测器，支持同时测量四个通道，提高测试效率。
可调谐激光器兼容：
最多可结合4个可调谐激光器（SMF型号），实现无缝的全波段测量。
兼容EXFO的T200S/T500S和T100S-HP连续可调谐激光器。
偏振保持（PM）和偏振相关损耗（PDL）测量：
CT440-PDL型号集成了一个偏振态发生器，能够鉴定插损和偏振相关损耗的频谱（基于穆勒矩阵法）。
可选购偏振保持（PM）光纤，用于测量对偏振敏感的器件（如MZ调制器）的插损。
