纳米焦点X射线显微镜检查装置_三维X射线显微镜-深圳市晧辰电子科技有限公司手机版

详细介绍

产品描述：

TUX-3300N 是一款专为高精度、高分辨率X射线成像设计的显微镜检查装置，它结合了优良的X射线技术和精密的机械结构，为用户提供了一种非破坏性的检测手段，适用于各种微型电子部件、半导体器件、材料科学以及生物医学等领域的检测和分析。

特点：

采用筐体设计，提高使用性

高速检查机械应对功能和半自动检查机功能

探测器最大倾斜角度60° ，载物台尺寸，直径400mm

高分辨率 0.4um 分辨率，拥有 1200 倍几何的高放大倍率
放大倍率和 7200 倍显示器放大倍率。
低像差纳米聚焦技术可产生出色的分辨率结果。

用于半导体、精细电气器件的观察和分析。• 具有可处理大型电路板的载物台。
系统使用直径为 400 毫米的转盘，可以进行检查

可以从任何角度检查样品。
支持加热和CT功能。