产品概述：
Keithley 4200-SCS（半导体表征系统）是用于半导体器件和材料的 I-V 表征的集成系统。根据配置，该仪器具有两个标准 SMU（分辨率为 1pA）和两个预放大 SMU（分辨率为 100fA）。当与地面单元 （GRNU） 结合使用时，这提供了执行多达五个终端设备测量的能力。4200-SCS 是执行晶体管表征和参数测量的理想仪器。它还可用于二极管表征。高级用户可以将仪器的配置灵活性、高的灵敏度用于其他目的，例如压力测试和准静态 C-V 测量。
4200-SCS 通过便捷的用户界面提供真正出色的灵敏度和性能。但是，强烈建议用户注意，成功的低电流测量（例如，低于 1pA）需要适当的夹具并熟练掌握屏蔽和保护技术。因此，鼓励用户花时间研究设备操作手册，并仔细考虑他们的样品配置和实验条件。不做出此承诺将导致设备性能受损和无法获得优良结果。所有测试配置中的一个重要考虑因素是测试敏感度和测试时间之间的权衡。极低电流测试受物理定律（散粒噪声）的限制，精度是通过较长的测试（积分）时间实现的。
仪器的输入通过低噪声三轴电缆提供。为了充分利用性能，应将测试夹具配置为尽可能靠近被测设备 （DUT） 的受保护连接。
MTW 工程师可以通过 GUI 为被测器件 DUT 夹具和编程提供建议和帮助。希望在不全面了解其操作的情况下利用仪器功能的用户应预见到需要购买帮助。
对于在可用操作范围内要求最高灵敏度的用户，该仪器是良好的选择。
技术特征：
台式电压、电流测量
电压至 200v
电流至 100mA
图形用户界面设置和操作
基于 GPIB 的自动数据采集 - 需要高级编程技能
